检索结果-南通市图书馆

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

离子束溅射制备“日盲”紫外诱导透射滤光片

光学精密工程 2011年第12期19卷 2884-2890页

作者：邓文渊金春水中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室吉林长春130033

对"日盲"紫外诱导透射滤光片进行了理论设计与分析,并分别优化了离子束溅射法沉积ZrO2、SiO2和Al薄膜的工艺。利用反射与透射光谱反演获得了ZrO2和SiO2薄膜的光学常数,并由JGS1/SiO2/Al/SiO2/air(SAS)样品的变角度椭偏光谱反演精确获得... 详细信息

对"日盲"紫外诱导透射滤光片进行了理论设计与分析,并分别优化了离子束溅射法沉积ZrO2、SiO2和Al薄膜的工艺。利用反射与透射光谱反演获得了ZrO2和SiO2薄膜的光学常数,并由JGS1/SiO2/Al/SiO2/air(SAS)样品的变角度椭偏光谱反演精确获得了Al薄膜的光学常数。在此基础上,采用离子束溅射沉积方法并利用上述3种薄膜材料优化制备了"日盲"紫外诱导透射滤光片,测量了滤光片的光谱性能。光谱性能分析表明,滤光片的峰值波长位于264nm,峰值透过率大于60.0%,透过峰带宽(FWHM)约为13nm,在300～350nm波段的截止度达到了2.6OD。研究认为制约离子束溅射制备"日盲"紫外诱导透射滤光片性能的主要因素是Al金属膜的溅射沉积速率以及沉积Al膜时腔体中残余的O2含量。

关键词：离子束溅射 “日盲”紫外诱导透射滤光片 ZrO2 折射率消光系数椭偏光谱

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

常压制备SiO_2气凝胶薄膜

红外与毫米波学报 2004年第6期23卷 465-468页

作者：马建华孟祥建孙兰王根水林铁石富文褚君浩中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室上海200083

采用溶胶—凝胶工艺在常压下制备了SiO2气凝胶薄膜,并用傅里叶红外光谱仪(FTIR)、扫描电子显微镜(SEM)、椭偏光谱仪等表征了薄膜的结构和性能.研究结果表明,气凝胶薄膜的折射率低达1.067,对应孔洞率为87.7%,密度为0.269×103kg·m-3,热... 详细信息

采用溶胶—凝胶工艺在常压下制备了SiO2气凝胶薄膜,并用傅里叶红外光谱仪(FTIR)、扫描电子显微镜(SEM)、椭偏光谱仪等表征了薄膜的结构和性能.研究结果表明,气凝胶薄膜的折射率低达1.067,对应孔洞率为87.7%,密度为0.269×103kg·m-3,热导率为0.020W·m-1·K-1(300K)时,介电常数为1.52.这些优异性能的获得,主要归因于酸/碱两步催化、溶剂替换以及胶粒表面硅烷化等三个过程.

关键词： SiO2气凝胶制备薄膜硅烷化溶剂凝胶工艺压制椭偏光谱傅里叶红外光谱结构和性能

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

具有亚表面损伤层基底表面的激光减反膜设计

红外与激光工程 2013年第10期42卷 2737-2741页

作者：刘华松刘杰王利栓姜玉刚冷健季一勤天津津航技术物理研究所天津市薄膜光学重点实验室袁天津 300192 中国人民解放军驻中国空军导弹研究院军事代表室袁河南洛阳 471009

光学材料的亚表面损伤层(SSD)是激光光学领域内的研究热点之一。亚表面损伤层的存在将导致其表面薄膜特性发生变化,尤其是在高精度低损耗激光薄膜的设计与制造中亚表面损伤层必须给予考虑。文中研究了亚表面损伤层的物理特性,并借助于... 详细信息

光学材料的亚表面损伤层(SSD)是激光光学领域内的研究热点之一。亚表面损伤层的存在将导致其表面薄膜特性发生变化,尤其是在高精度低损耗激光薄膜的设计与制造中亚表面损伤层必须给予考虑。文中研究了亚表面损伤层的物理特性,并借助于椭圆偏振仪测量基底表面的椭偏光谱,反演计算出SSD的物理厚度和折射率梯度。通过计算得到了亚表面的深度和梯度对激光减反膜反射率光谱的影响,证明了亚表面深度对反射率的影响具有周期效应。在考虑亚表面损伤层的深度和梯度存在的基础上,对激光减反膜的设计进行了理论修正,数值实验结果证明通过膜系的修正可以实现633 nm处的零反射。

关键词：激光减反膜亚表面损伤层椭偏光谱折射率梯度

电子辐照对MgAl_2O_4尖晶石光学性质的影响

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

人工晶体学报 2006年第2期35卷 228-232页

作者：阳生红张曰理莫党何捷中山大学物理系光电材料与技术国家重点实验室广州510275 四川大学物理系成都610035

本文利用1.7 M eV电子辐照MgA l2O4尖晶石后,通过吸收谱测量表明,被电子辐照的尖晶石可产生大量的F型色心缺陷,而且电子的辐照剂量明显地影响尖晶石的光谱特性。随着电子辐照剂量增加,F型色心缺陷的浓度增大;椭偏光谱分析得到的光学常... 详细信息

本文利用1.7 M eV电子辐照MgA l2O4尖晶石后,通过吸收谱测量表明,被电子辐照的尖晶石可产生大量的F型色心缺陷,而且电子的辐照剂量明显地影响尖晶石的光谱特性。随着电子辐照剂量增加,F型色心缺陷的浓度增大;椭偏光谱分析得到的光学常数谱随电子辐照剂量的变化而改变。我们对上述现象进行了合理的分析。

关键词： MgAl2O4尖晶石电子辐照吸收谱 F型色心椭偏光谱

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

不同厚度溅射Ag膜的微结构及光学常数研究

光学学报 2002年第6期22卷 678-682页

作者：何玉平吴桂芳李爱侠孙兆奇安徽大学物理系合肥230039

用直流溅射法在室温Si基片上制备了 4 .9nm～ 189.0nm范围内不同厚度的Ag薄膜 ,并用X射线衍射及反射式椭偏光谱技术对薄膜的微结构和光学常数进行了测试分析。结构分析表明 :制备的Ag膜均呈多晶状态 ,晶体结构仍为面心立方 ;随膜厚增加... 详细信息

用直流溅射法在室温Si基片上制备了 4 .9nm～ 189.0nm范围内不同厚度的Ag薄膜 ,并用X射线衍射及反射式椭偏光谱技术对薄膜的微结构和光学常数进行了测试分析。结构分析表明 :制备的Ag膜均呈多晶状态 ,晶体结构仍为面心立方 ;随膜厚增加薄膜的平均晶粒尺寸由 6 .3nm逐渐增大到 14 .5nm ;薄膜晶格常数均比标准值(0 .4 0 86 2nm)稍小 ,随膜厚增加 ,薄膜晶格常数由 0 .4 0 5 85nm增大到 0 .4 0 779nm。 2 5 0nm～ 830nm光频范围椭偏光谱测量结果表明 :与Johnson的厚Ag膜数据相比 ,我们制备的Ag薄膜光学折射率n总体上均增大 ,消光系数k变化复杂 ;在厚度为 4 .9nm～ 83.7nm范围内 ,实验薄膜的光学常数与Johnson数据差别很大 ,厚度小于 33.3nm的实验薄膜k谱线中出现吸收峰 ,峰位由 4 6 0nm红移至 6 90nm处 ,且其对应的峰宽逐渐宽化 ;当膜厚达到约189nm时 ,实验薄膜与Johnson光学常数数据已基本趋于一致。

关键词：溅射Ag薄膜微结构光学常数椭偏光谱薄膜厚度银薄膜

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

亚酞菁薄膜的折射率和吸收特性

光学学报 2001年第5期21卷 634-637页

作者：王阳顾冬红干福熹中国科学院上海光学精密机械研究所上海201800

通过真空镀膜法在单晶硅片上制备了一种新的亚酞菁 (三硝基溴硼亚酞菁 )薄膜。利用全自动椭圆偏振光谱仪研究了该薄膜的椭偏光谱 ,测量了其复折射率、复介电常数和吸收系数 ,估算了薄膜在窗口区域的俘获能级并对其吸收谱的成因作了分析。

关键词：椭偏光谱折射率吸收系数真空镀膜单晶硅亚酞菁薄膜复介电常数

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

酞菁氧钛薄膜光学常数的测量研究

光电子．激光 2008年第9期19卷 1210-1213页

作者：于书坤夏道成高强李万程程传辉何为杜国同集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学实验区吉林大学电子科学与工程学院吉林长春130012 三束材料改性国家重点实验室大连理工大学物理与光电工程学院辽宁大连116023

使用M-2000UI型宽光谱可变入射角椭偏仪,对在单晶硅片上真空蒸镀的酞菁氧钛(TiOPc)薄膜的光学性质进行了研究。在248～1650nm(0.75～5ev)的范围内分别使用柯西模型、逐点拟合模型、洛伦兹模型和高斯模型对测得的椭偏光谱进行拟合分析,... 详细信息

使用M-2000UI型宽光谱可变入射角椭偏仪,对在单晶硅片上真空蒸镀的酞菁氧钛(TiOPc)薄膜的光学性质进行了研究。在248～1650nm(0.75～5ev)的范围内分别使用柯西模型、逐点拟合模型、洛伦兹模型和高斯模型对测得的椭偏光谱进行拟合分析,获得了TiOPc薄膜的折射率、消光系数和复介电常数。通过比较,我们发现高斯模型拟合的均方差较小,拟合数据和测试数据重合度好,而且拟合得到的光学常数的图线光滑连续,因此认为高斯模型最适用于描述TiOPc薄膜的光学性质。由高斯模型拟合所得的消光系数推出了TiOPc薄膜的吸收谱,结果发现TiOPc薄膜在紫外可见近红外区有一系列的吸收峰,分析了其电子结构及吸收谱成因,并由吸收谱推算了其光学禁带宽度。

关键词：薄膜光学常数椭偏光谱酞菁氧钛介电常数

(Pb,Ca)TiO_3铁电薄膜光学性质的研究

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

无机材料学报 2000年第2期15卷 299-303页

作者：李辉遒唐新桂刘毅唐振方张曰理莫党中山大学物理系广东工业大学数理系 5100902

用溶胶凝胶法在Ｓｉ（１００）衬底上制备了（Ｐｂ，Ｃａ）ＴｉＯ３铁电薄膜样品，测量了其在２．３～５．０ｅＶ能量范围的椭偏光谱，并获得样品的膜厚和在该区间的光学常数谱．实验发现Ｐｂ离子被Ｃａ离子取代后，折射率峰向低能方向... 详细信息

用溶胶凝胶法在Ｓｉ（１００）衬底上制备了（Ｐｂ，Ｃａ）ＴｉＯ３铁电薄膜样品，测量了其在２．３～５．０ｅＶ能量范围的椭偏光谱，并获得样品的膜厚和在该区间的光学常数谱．实验发现Ｐｂ离子被Ｃａ离子取代后，折射率峰向低能方向移动；同时随着Ｃａ含量的增加，（Ｐｂ，Ｃａ）ＴｉＯ３的吸收边向低能方向移动，表明Ｃａ离子取代Ｐｂ离子后，禁带宽度Ｅｇ减小．还讨论了引起折射率峰移动和禁带宽度Ｅｇ减小的原因．

关键词：椭偏光谱铁电薄膜光学性质三氧化钛钛酸铅

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

偶氮金属镍薄膜的折射率和吸收特性研究

中国激光 2004年第9期31卷 1091-1094页

作者：耿永友顾冬红干福熹中国科学院上海光学精密机械研究所上海201800

偶氮金属镍 (Ni(azo) 2 )是一类具有很大潜力的可录光盘存储介质。为了准确地获取一种偶氮金属镍薄膜的光学常数 ,用旋涂法 (Spin- coating)在单晶硅片上制备了 Ni(azo) 2 薄膜。在波长扫描和入射角可变全自动椭圆偏振光谱仪上研究了 Ni... 详细信息

偶氮金属镍 (Ni(azo) 2 )是一类具有很大潜力的可录光盘存储介质。为了准确地获取一种偶氮金属镍薄膜的光学常数 ,用旋涂法 (Spin- coating)在单晶硅片上制备了 Ni(azo) 2 薄膜。在波长扫描和入射角可变全自动椭圆偏振光谱仪上研究了 Ni(azo) 2 薄膜的椭偏光谱。采用逼近算法获得了 Ni(azo) 2 薄膜在可见光范围内的复折射率、复介电函数、吸收系数和薄膜厚度。分析了 Ni(azo) 2 薄膜可见吸收光谱的形成机理。结果表明在波长 6 5 0 nm处薄膜的折射率为 2 .19,吸收常数为 0 .0 2 3,具有良好的吸收和反射特性 ,显示出作为高密度数字多用光盘 (DVD- R)记录介质的良好应用前景。

关键词：薄膜物理学薄膜光学常数椭偏光谱偶氮金属镍螯合物