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文献类型

  • 2 篇 期刊文献

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日期分布

学科分类号

  • 1 篇 经济学
    • 1 篇 应用经济学
  • 1 篇 理学
    • 1 篇 数学
    • 1 篇 统计学（可授理学、...
  • 1 篇 工学
    • 1 篇 仪器科学与技术
    • 1 篇 控制科学与工程

主题

  • 2 篇 高冲击
  • 2 篇 失效
  • 2 篇 抗过载能力
  • 2 篇 晶振芯片
  • 1 篇 hopkinson杆

机构

  • 2 篇 仪器科学与动态测...

作者

  • 2 篇 徐鹏
  • 2 篇 祖静
  • 2 篇 李乐

语言

  • 2 篇 中文
检索条件"主题词=晶振芯片"
共 2 条 记 录，以下是1-10 订阅
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晶振芯片在高g值冲击下的失效机理分析
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仪器仪表学报 2006年 第Z3期27卷 2589-2590页
作者： 李乐 祖静 徐鹏 仪器科学与动态测试教育部重点实验室中北大学电子工程系 太原030051
芯片是弹载存储测试系统的最基本的单元,它的抗强冲击能力直接影响测试系统的可靠性。为了研究芯片抗高过载能力,本实验利用Hopkinson杆对最典型的晶振芯片进行高g值冲击,以一维应力波理论估计芯片受到的加速度。对实验现象进行理论分... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
EXO3晶振与KSS晶振在高过载下的失效特性分析
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引用
中国测试技术 2007年 第3期33卷 88-90页
作者： 李乐 祖静 徐鹏 仪器科学与动态测试教育部重点实验室中北大学 山西太原030051
为了研究芯片抗高过载能力,本实验选取两种典型晶振芯片:EXO3、KSS,利用Hopkinson杆对其进行高g值冲击,以一维应力波理论估计芯片受到的加速度,并用运力学模型对其内部结构进行分析。结果表明:晶振的内部结构直接影响它的抗冲击性能;与... 详细信息
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