检索结果-南通市图书馆

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

大规模集成电路模拟技术中改进型支路撕裂法

西安交通大学学报 2004年第8期38卷 828-830页

作者：赵进全路灿韩玉兰江慰德西安交通大学电气工程学院西安710049

提出了一种改进型的支路撕裂法,该方法将撕裂支路等效为受一定条件约束的电流源支路,引入松弛法和迭代法,从而将整个电路转变为若干个相对独立的子电路.该方法不需要对电路中的节点、支路按特殊规则进行划分,能够有效地分析含有纯电压... 详细信息

提出了一种改进型的支路撕裂法,该方法将撕裂支路等效为受一定条件约束的电流源支路,引入松弛法和迭代法,从而将整个电路转变为若干个相对独立的子电路.该方法不需要对电路中的节点、支路按特殊规则进行划分,能够有效地分析含有纯电压源支路的电路及非线性电路,对迭代初始值要求低,收敛快,方法简单.计算实例验证了该方法的可靠性和有效性.

关键词：大规模集成电路改进型支路撕裂法非线性电路电压源支路

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

大规模集成电路模块级云-小波故障诊断

电子技术应用 2014年第12期40卷 33-35,39页

作者：孙寰勇殷顺刘春梅余汉华中机国能电力工程有限公司上海200061

随着集成电路的结构功能模块化,元件级诊断已没有必要,且容差特性将导致累积误差缺陷。对此提出一种云模型嵌套小波网络的大规模集成电路故障诊断方法。采集网络撕裂后的模块化集成电路状态信息,用正向云模型对采集量归一化预处理作为... 详细信息

随着集成电路的结构功能模块化,元件级诊断已没有必要,且容差特性将导致累积误差缺陷。对此提出一种云模型嵌套小波网络的大规模集成电路故障诊断方法。采集网络撕裂后的模块化集成电路状态信息,用正向云模型对采集量归一化预处理作为小波网络数据量输入,经训练后的输出数据组逆云化处理,得出辨识明晰的诊断结果。例证说明,该方法提高了集成电路的故障诊断精度。

关键词：正向云逆云化处理网络撕裂法大规模集成电路故障诊断

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

大规模集成电路抗辐射性能无损筛选方法

强激光与粒子束 2013年第2期25卷 485-489页

作者：周东郭旗任迪远李豫东席善斌孙静文林中国科学院新疆理化技术研究所乌鲁木齐830011 新疆电子信息材料与器件重点实验室乌鲁木齐830011 中国科学院研究生院北京100049

空间辐射环境会对电子器件产生辐射损伤。由于商用器件性能普遍优于抗辐射加固器件,所以从商用器件中筛选出抗辐射性能优异的器件将在一定程度上提高空间电子系统的可靠性。结合数学回归分析与物理应力实验的方法,研究了集成电路抗辐射... 详细信息

空间辐射环境会对电子器件产生辐射损伤。由于商用器件性能普遍优于抗辐射加固器件,所以从商用器件中筛选出抗辐射性能优异的器件将在一定程度上提高空间电子系统的可靠性。结合数学回归分析与物理应力实验的方法,研究了集成电路抗辐射性能无损筛选技术。通过不同的外界能量注入及总剂量辐照实验,探究电路典型参数的应变情况与电路耐辐射性能的关系,并确定其辐射敏感参数;建立预测电路抗辐射性能的多元线性回归方程,并对应力条件下的回归方程进行辐照实验验证。结果显示,物理应力实验与数学回归分析结合的筛选方法减小了实验值与预测值的偏差,提高了预估方程的拟合优度和显著程度,使预估方程处于置信区间。

关键词：大规模集成电路无损筛选辐射损伤回归分析物理应力

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

大规模集成电路总剂量效应测试方法初探

物理学报 2004年第1期53卷 194-199页

作者：贺朝会耿斌何宝平姚育娟李永宏彭宏论林东生周辉陈雨生西北核技术研究所西安69信箱13分箱西安710024

提出了初步的大规模集成电路总剂量效应测试方法。在监测器件和电路功能参数的同时 ,监测器件功耗电流的变化情况 ,分析数据错误与器件功耗电流变化的关系及其总剂量效应机理。给出了大规模集成电路 :静态随机存取存储器 (SRAM)、电擦... 详细信息

提出了初步的大规模集成电路总剂量效应测试方法。在监测器件和电路功能参数的同时 ,监测器件功耗电流的变化情况 ,分析数据错误与器件功耗电流变化的关系及其总剂量效应机理。给出了大规模集成电路 :静态随机存取存储器 (SRAM)、电擦除电编程只读存储器 (EEPROM)、闪速存储器 (FLASHROM)和微处理器 (CPU)的6 0 Coγ总剂量效应实验的结果 .

关键词：大规模集成电路半导体器件总剂量效应监测器件电路功能参数功耗电流静态随机存取存储器电擦除电编程只读存储器闪速存储器微处理器

大规模集成电路高温动态老化测试嵌入式图形发生系统的可编程ASIC实现

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

仪器仪表学报 2003年第1期24卷 27-30页

作者：冉立新浙江大学信息与电子工程学系杭州310027

图形发生系统是大规模集成电路高温动态老化测试的核心子系统。在此 ,采用可编程 ASIC技术成功实现了这一系统。在体系结构及性能指标方面做了很大改进的同时 ,极大地减小了系统的 PCB尺寸 ,首次实现了嵌入方式。

关键词：大规模集成电路嵌入式图形发生系统可编程ASIC 老化测试

应用于大规模集成电路非线性布局的二元结群算法

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

计算机辅助设计与图形学学报 2013年第7期25卷 1083-1088页

作者：高文超周强钱旭蔡懿慈中国矿业大学(北京)机电与信息工程学院北京100083 清华大学计算机科学与技术系北京100084

针对平面模式下非线性布局算法的设计能力远远跟不上集成电路发展速度的现状,将连接紧密的单元结合作为整体参与布局,提出一种应用于大规模非线性布局的二元结群算法,以减小电路规模和复杂度,进而提高布局算法速度、优化布局算法结果质... 详细信息

针对平面模式下非线性布局算法的设计能力远远跟不上集成电路发展速度的现状,将连接紧密的单元结合作为整体参与布局,提出一种应用于大规模非线性布局的二元结群算法,以减小电路规模和复杂度,进而提高布局算法速度、优化布局算法结果质量.该算法按2个单元之间对内连接度与对外连接度的比值排序,并按比值从大到小对单元进行结群,然后更新网表;如果其中一个单元已经被结群或是它们合并后总面积会大于目标结群面积,则放弃这2个单元的组合.将文中算法嵌入之前实现的平面非线性布局器中,可使运行时间相对于平面模式减少40%,布局结果的质量提高了12%.该布局器详细布局后的结果比当前流行的同样采用结群算法的布局器Capo,FastPlace,Fengshui和mPL5-fast算法分别优化了7%,9%,7%和5%,显示了其有效性和高效性.

关键词：二元结群多层结构非线性布局大规模集成电路

大规模集成电路浮栅ROM器件总剂量辐射效应

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

Journal of Semiconductors 2006年第1期27卷 121-125页

作者：何宝平周荷琴郭红霞周辉罗尹虹姚志斌张凤祁中国科学技术大学西北核技术研究所西安710024 西北核技术研究所

提出了一种大规模集成电路总剂量效应测试方法在监测器件和电路功能参数的同时,监测器件功耗电流的变化情况,分析数据错误和器件功耗电流与辐射总剂量的关系.根据该方法利用60Coγ射线进行了浮栅ROM集成电路(AT29C256)总剂量辐照实验,... 详细信息

提出了一种大规模集成电路总剂量效应测试方法在监测器件和电路功能参数的同时,监测器件功耗电流的变化情况,分析数据错误和器件功耗电流与辐射总剂量的关系.根据该方法利用60Coγ射线进行了浮栅ROM集成电路(AT29C256)总剂量辐照实验,研究了功耗电流和出错数量在不同γ射线剂量率辐照下的总剂量效应,以及参数失效与功能失效时间随辐射剂量率的变化关系,并利用外推实验技术预估了电路在空间低剂量率环境下的失效时间.

关键词：大规模集成电路总剂量效应低剂量率失效时间

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

大规模集成电路在采煤机中的应用

陕西煤炭 2014年第3期33卷 76-78页

作者：刘少军神华神东煤炭集团公司设备维修中心陕西神木719300

艾柯夫EKF/SL500型采煤机电气布局分散,接线繁多,经多年使用后电气故障率很高。澳大利亚鹏派克公司(PEMPEK)采用大规模集成电路对神东公司一台在用的EKF/SL500-6468采煤机电控系统进行了改造,并对牵引控制系统加以优化,改造后的采煤机... 详细信息

艾柯夫EKF/SL500型采煤机电气布局分散,接线繁多,经多年使用后电气故障率很高。澳大利亚鹏派克公司(PEMPEK)采用大规模集成电路对神东公司一台在用的EKF/SL500-6468采煤机电控系统进行了改造,并对牵引控制系统加以优化,改造后的采煤机整个系统可靠性良好。

关键词：艾柯夫采煤机电控改造大规模集成电路可靠性良好

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

大规模集成电路界面热阻试验研究

大规模集成电路界面热阻试验研究

作者：王伯营武汉理工大学

学位级别：硕士

信息技术是国民经济的核心技术,它服务于国民经济各个领域,微电子技术是信息技术的关键。改革开放以来我国经济迅速发展,信息产业更是取得了长足的进步。目前,中国已成为全球增长潜力最大的电子产品消费大国:全球最大的... 详细信息

信息技术是国民经济的核心技术,它服务于国民经济各个领域,微电子技术是信息技术的关键。改革开放以来我国经济迅速发展,信息产业更是取得了长足的进步。目前,中国已成为全球增长潜力最大的电子产品消费大国:全球最大的移动电话市场、第三大PC市场,未来五年还将成为全球第二大半导体市场。集成电路特别是大规模集成电路的广泛应用引发了对集成电路散热的深入研究。人们在实践中发现在热传导过程中,漏热问题总是不可避免,在电子技术领域,电子产品的热输运问题有芯片内部集成电路与其基片之间的传热问题和芯片外壳的散热设计,在外界条件一定的情况下,集成电路与散热器的界面热阻是影响散热效率的主要因素,其界面传热直接影响芯片性能指标和可靠性。因此,找到并测试集成电路与散热器之间界面热阻的影响因素对于解决集成电路散热,节能降耗有着十分重大的意义。本文以一款CPU与散热器的界面热阻作为研究对象进行初步的试验研究和探讨。论文首先对试验系统进行了传热过程的分析,指出界面热阻对于整个系统散热的影响。实验是界面热阻研究的基础组成,参数的自动测量与控制是大规模集成电路固体界面传热实验必需解决的基本问题。论文自行设计和制作了数据采集系统的硬件与软件,从温度传感器的选择到传感器的安装、信号放大以及模数转换等都做了较详细的阐述和分析并基于Lab View7.0开发了操作界面。 CPU的发热功率是计算界面热阻的重要参数,论文又基于热平衡理论,制作了用于对选用型号CPU发热功率进行测量的试验装置,并基于此获得CPU发热功率的参数。再配合数据采集系统,最终得到了CPU与散热器之间的界面热阻。通过不断改变试验条件以及荷载情况,找到界面热阻的影响因素,并通过试验测量数据对界面热阻的影响因素进行了定性的分析,解释了其发生作用的影响机理。

关键词：大规模集成电路界面热阻数据采集热功耗