大规模集成电路高温动态老化测试嵌入式图形发生系统的可编程ASIC实现
Design of Embedded Graphic Generator for High Temperature Dynamic VLSI Burn-in Test System Using Programmable ASIC Technology作者机构：浙江大学信息与电子工程学系杭州310027
出 版 物：《仪器仪表学报》 (Chinese Journal of Scientific Instrument)
年 卷 期：2003年第24卷第1期
页 面：27-30页
核心收录：
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 0804[工学-仪器科学与技术] 0703[理学-化学]
主 题：大规模集成电路 嵌入式图形发生系统 可编程ASIC 老化测试
摘 要：图形发生系统是大规模集成电路高温动态老化测试的核心子系统。在此 ,采用可编程 ASIC技术成功实现了这一系统。在体系结构及性能指标方面做了很大改进的同时 ,极大地减小了系统的 PCB尺寸 ,首次实现了嵌入方式。
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