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日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 材料科学与工程（可...
    • 1 篇 电子科学与技术（可...

主题

  • 1 篇 光学探测技术
  • 1 篇 物理调试方法
  • 1 篇 错误隔离技术
  • 1 篇 硅设计验证方法
  • 1 篇 非侵入性tre技术
  • 1 篇 节点级探测技术
  • 1 篇 光子辐射测量
  • 1 篇 工程技术验证测试...
  • 1 篇 硅片调试
  • 1 篇 机械探测法
  • 1 篇 复杂时序问题模式

机构

  • 1 篇 美国optonics公司

作者

  • 1 篇 israel niv

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=光子辐射测量"
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非侵入式光学探测技术加快硅片调试
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引用
电子设计应用 2004年 第5期 12-15页
作者： Israel Niv 美国Optonics公司
包括激光电压探测和时间分辨发射技术的非侵入式光学检测方法,有助于设计工程师获取硅片成功,缩短产品进入市场的时间。
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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