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Rietveld quantification of γ-c_2S conversion rate supported by synchrotron X-ray diffraction images

Journal of Zhejiang University-Science A(Applied Physics & Engineering) 2013年第11期14卷 815-821页

作者： Pi-qi ZHAO Xian-ping LIU Jian-guo WU Pei-ming WANG School of Materials Science and Engineering Tongji University Key Laboratory of Advanced civil Engineering Materials (Tongji University) Ministry of Education

The pure γ-ca2SiO4 （]t-c2S） phase was prepared at 1623 K of calcining temperature, 10 h of holding time and furnace cooling. The 13-c2S phase was obtained through γ-c2S conversion with the following calcination system which was adopted at 1473 K of calcining temperature, 1 h of holding time and then water-cooling. The conversion rate of γ-c2S was studied by the Rietveld quantitative laboratory X-ray powder diffraction supported by synchrotron X-ray diffraction images. The refinement results show that the final conversion rate of γ-c2S is higher than 92%. The absolute error of the γ-c2S conversion rate between two Rietveld refinements （sample with or without α-Al2O3） is 3.6%, which shows that the Rietveld quantitative X-ray diffraction analysis is an appropriate and accurate method to quantify the γ-c2S conversion rate.

关键词： β-c28 γ-c28 Rietveld quantification Synchrotron X-ray diffraction image

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