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把感耦等离子体光源粉末法由每次进样需点火改进到不熄火
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岩矿测试 1982年 第3期1卷 60-60页
作者: 陈小署 湖南地质局实验
这个问题在感耦等离子体光源溶液中不存在。一次点火,逐个进样。但在双高频粉末法中每换一个样品,需点一次火。因为粉末进样雾化器由双高频发生器和密封式雾化室两部分组成。
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日本和巴西共同研制新型粉末法的超导电线材
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情报知识 1986年 第3期 41-41页
作为日本和巴西间技术协作的一环,从1980年度进行了“关于铌利用技术的研究”日本在超导电技术方面在世界上领先,巴西的铌埋藏量占全世界的大约80%,双方进行协作,目标是要在超导电部门有效利用铌。
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粉末法制备聚酰亚胺泡沫塑料
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合成树脂及塑料 2011年 第6期28卷 22-24页
作者: 马明明 白晓军 宗成中 刘连河 张树华 青岛科技大学高分子科学与工程学院 山东省青岛市266042 青岛海洋新材料科技有限公司 山东省青岛市266101
以芳香二酐和二胺为单体,甲醇/四氢呋喃为溶剂,通过酯化合成聚酯铵盐前驱体粉末粉末法制备泡孔均匀的聚酰亚胺泡沫塑料。采用扫描电子显微镜照片、傅里叶变换红外光谱和热重分析表征泡沫材料结构及耐热性能,研究了初始加热温度、粉... 详细信息
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ICP—AES粉末法测定多种单矿物中的伴生元素和痕量元素
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岩矿测试 1989年 第4期8卷 283-290页
作者: 蒋文艳 陈虹 沈阳综合岩矿测试中心
本文根据标准与单矿物之间基体成份的差别,配制两个成份不同的缓冲剂,利用计算方来调节标准与单矿物的基体成份。仅用一套二氧化硅为基体的人工标准,就能测定多种单矿物中的25项伴生元素和痕量元素。
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粉末系过剩压晶种金刚石合成研究
粉末系过剩压晶种法金刚石合成研究
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作者: 姚勇 四川大学
学位级别:硕士
人造金刚石在工业中具有广泛用途,近年来粉末触媒-石墨金刚石合成工艺得到迅速发展;在粉末工艺的基础上进一步提高技术水平是现在的关键问题。国外早在20世纪80年代就已对过剩压晶种进行了充分研究;而我国在过去近20年里只有少数人... 详细信息
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X射线衍射仪粉末法测定硅点阵参数的研究
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钢铁研究情报 1982年 第Z2期 85-93页
作者: 窦盛斌 袁左 金物研究室
本文以 X 射线衍射仪粉末法的慢速双向连续扫描和三点抛物线拟合两种方分别测定硅(多晶粉末样品)点阵参数。各测三次得25℃时之 a 值分别为 a=5.43086±0.00016与 a=5431054±0.000019,其精确度分别为万分之一与五万分之一,并分... 详细信息
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X射线衍射仪粉末法测定硅点阵常数的精确度和准确度
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清华大学学报(自然科学版) 1980年 第2期 103-113页
作者: 陶琨 工程物理系
以普通粉末衍射仪用单边并峰值定位(不借助内标)测定高纯硅粉的点阵常数,目的是提高测定的精确度和准确度。考虑了各种误差。对焦点偏移误差进行了分析、确定了准直的要求并以实验方消除了此误差。用实验方测定了衍射峰位的... 详细信息
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在氧-氩气氛中直流电弧粉末法测定氧化镧中14个稀土杂质
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稀有金属 1982年 第5期 45-49页
作者: 李全福 李长水 冶金部有色金属研究总院
用光谱纯石墨粉与氧化镧等量混合研匀,装入石墨电极孔穴中作阳极,在O2∶Ar=1∶4,总流量为5升/分的氧—氩气氛中,用直流电弧激发,在二米平面光栅摄谱仪上摄谱,一次摄谱完成氧化镧中14个稀土杂质光谱测定,以logR—logC绘制工作曲线,其测... 详细信息
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发射光谱直流电弧粉末法测定禽蛋壳中的微量元素
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环境科学与技术 1985年 第4期 28-30页
作者: 张悟铭 陈加新 武汉大学化学系
环境污染对生态的影响是一个十分重要的问题,但目前尚处于研究阶段。本文用发射光谱分析测定了禽蛋壳中的微量元素,为生态研究提供了分析方。发射光谱分析中较理想的光源是ICP光源,但它装置较复杂,分析费用较贵。直流电弧操作简单,... 详细信息
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AISI-304不锈钢扩散渗硅层组织研究
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材料热处理学报 2008年 第6期29卷 135-139页
作者: 罗新民 王金兰 陈康敏 潘励 江苏大学材料科学与工程学院 江苏镇江212013
利用热场发射电镜研究AISI-304奥氏体不锈钢表面在用粉末包埋热扩散处理获得的渗硅层的微观组织和精细结构。结果表明,在1050℃扩散处理6h,γ相不锈钢的渗硅层厚度可达60μm以上,渗硅层组织由高硅表面和α相扩散区组成,在α相扩散层... 详细信息
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