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标注立方、六方、四方及正交晶系粉末法X射线图谱指数的直线图解法

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物理学报 1965年第2期 455-464页

作者：李华瑞北京钢铁学院

本文提出一个新的图解法,用它可以标注立方、六方、四方及正交晶系粉末法X射线图谱上衍射线条的指数。这种直线图解法的特点是:(1)作图简单;(2)立方、六方、四方及正交晶系合用同一直线图;(3)由直线图可分别求出晶格常数a,b,c的数值;(4... 详细信息

本文提出一个新的图解法,用它可以标注立方、六方、四方及正交晶系粉末法X射线图谱上衍射线条的指数。这种直线图解法的特点是:(1)作图简单;(2)立方、六方、四方及正交晶系合用同一直线图;(3)由直线图可分别求出晶格常数a,b,c的数值;(4)在使用上不受反射级数“n”的限制。

关键词：晶系所有枝条横坐标轴图解法数值分析晶格常数点阵参数粉末法

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X 射线粉末法在无机化学研究中的应用

化学通报 1962年第6期 38-44页

作者：周公度

在我国许多高等学校和科学研究机关都先后建立了 X 射线晶体分析实验室,几乎每个实验室都有粉末法的照相设备,从事各方面的研究。关于 X 射线粉末法的原理、方法、操作技术和具体步骤,本刊已有介绍。近年来苏联、英、美等国也都有专书出... 详细信息

在我国许多高等学校和科学研究机关都先后建立了 X 射线晶体分析实验室,几乎每个实验室都有粉末法的照相设备,从事各方面的研究。关于 X 射线粉末法的原理、方法、操作技术和具体步骤,本刊已有介绍。近年来苏联、英、美等国也都有专书出版,详细介绍有关这方面的问题。本文主要通过实例阐述粉末法在无机化学研究中的具体应用。

关键词：晶胞常数晶体面心点阵 Bravais点阵物相分析相分析无定形体立方晶系等轴晶系粉末法无机化学

铬尖晶石类阳离子成分和位置分布的X射线粉末法研究

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西北地质科学 1981年第1期 63-72页

作者：徐培苍李静娴张晓云

随着铬铁矿物质成分与成矿规律研究的不断深入,对铬尖晶石类质同象系列矿物的鉴定与研究也越来越深化了.本文通过简便的X射线粉晶分析方法,结合一定的理论计算(结构分析),对铬尖晶石系列矿物的阳离子成分及其位置分布进行研究,以便从矿... 详细信息

随着铬铁矿物质成分与成矿规律研究的不断深入,对铬尖晶石类质同象系列矿物的鉴定与研究也越来越深化了.本文通过简便的X射线粉晶分析方法,结合一定的理论计算(结构分析),对铬尖晶石系列矿物的阳离子成分及其位置分布进行研究,以便从矿物学的角度探讨尖晶石类阳离子的迁移与富集规律,为铬铁矿成矿理论研究提供一定的依据.

关键词：尖晶石粉末法面网宝石衍射线位置分布镁铬铁矿八面体择位能阳离子分布晶胞晶种衍射强度

高频感耦等离子光源粉末法应用于化探样品中多元素测定

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分析化学 1982年第10期 590-595页

作者：胡文范云南省地质局实验室

本文用云南省地质局实验室研制的固体粉末送样装置,制定了ICP光源直接粉末法在硅酸盐类试样中一次摄谱同时测定Ag、As、B、Ba、Be、Bi、Cd、Co、Cr、Cu、Ga、Ge、Hf、In、La、Li、Mn、Mo、Nb、Ni、Pb、Sc、Sr、Sn、Ta、Ti、Tl、V、Y、Yb... 详细信息

本文用云南省地质局实验室研制的固体粉末送样装置,制定了ICP光源直接粉末法在硅酸盐类试样中一次摄谱同时测定Ag、As、B、Ba、Be、Bi、Cd、Co、Cr、Cu、Ga、Ge、Hf、In、La、Li、Mn、Mo、Nb、Ni、Pb、Sc、Sr、Sn、Ta、Ti、Tl、V、Y、Yb、Zn、Zr32个元素。相对标准偏差在10％之内,灵敏度、准确度达到化探要求。本法是一种灵敏度高,重现性好,记忆效应小,测量范围广,测定多元素的快速方法。

关键词：化探样品等离子光源摄谱分析线粉末法记忆效应残留效应测微光度计

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三方晶系碳酸盐矿物的X射线粉末法比较鉴定

矿物岩石 1983年第4期 89-92页

作者：陈昆林蔡素晖王作霖中南冶金地质研究所

二价阳离子（包括周期表中第Ⅱ族的主、付族的多数元素和铁、锰等十多种元素）的碳酸盐,其晶体为三方晶系和斜方晶系。前者以方解石和自云石两种结构型为代表;后者以文石为代表。属于三方晶系的碳酸盐是由离子半径小于Ca2+的一些离子构... 详细信息

二价阳离子（包括周期表中第Ⅱ族的主、付族的多数元素和铁、锰等十多种元素）的碳酸盐,其晶体为三方晶系和斜方晶系。前者以方解石和自云石两种结构型为代表;后者以文石为代表。属于三方晶系的碳酸盐是由离子半径小于Ca2+的一些离子构成的,它们是: Ca2+,Cd2+,Mn2+,Fe2+,Zn2+,Co2+,Ni2+,Mg2+

关键词：碳酸盐矿物粉末法三方晶系菱形晶系衍射图粉末图

卤化反应电弧蒸发粉末法ICP-AES分析的初步研究

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光谱学与光谱分析 1988年第2期 28-36页

作者：郭玉生陈全菊核工业部西北地勘局二○三所

固体进样是ICP-AES试样引入系统的薄弱环节,也是当前极感兴趣的热门课题。直至目前,固体试样引入ICP的方式已相当繁多,但其实际应用远不如溶液法那样成熟。粉末法和溶液法有着各自的优点和缺点。本文提出一种卤化蒸发装置,并以卤化反应... 详细信息

固体进样是ICP-AES试样引入系统的薄弱环节,也是当前极感兴趣的热门课题。直至目前,固体试样引入ICP的方式已相当繁多,但其实际应用远不如溶液法那样成熟。粉末法和溶液法有着各自的优点和缺点。本文提出一种卤化蒸发装置,并以卤化反应电弧蒸发粉末试样的手段,试图解决粉末法ICP-AES所存在的问题。

关键词：等离子炬沸点卤化物粉末法初步研究载气电弧蒸发卤化反应 AES ICP-AES 粒度效应基体元素

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再谈粉末法测低对称晶胞参数的计算方法

中国地质科学院南京地质矿产研究所所刊 1985年第2期 56-61页

作者：孙以谏南京地质矿产研究所

前文已给出了计算低对称晶胞参数的结晶学与数学原理及其算法的一般程序。通过近几年对多种系列硅酸盐造岩矿物的计算实践,笔者又对所提方法作了某些改进。本文是对这一问题研究成果的小结。关于过去的算法,一个基本的想法是,尽可能多... 详细信息

前文已给出了计算低对称晶胞参数的结晶学与数学原理及其算法的一般程序。通过近几年对多种系列硅酸盐造岩矿物的计算实践,笔者又对所提方法作了某些改进。本文是对这一问题研究成果的小结。关于过去的算法,一个基本的想法是,尽可能多地利用X光粉末图上可观测到的线来计算,因而采用了逐步扩大线条数目的修正指标化与加权最小二乘拟合修正参数交替迭代的方法。固然它在辉石、长石等系列矿物的计算中,曾经多次成功地实现了计算,但更多地实践表明,由于粉末图上出现的一些宽峰和弥散线很难通过修正指标化方法指定正确的指标,要是勉强利用这些线,反而会增大误差,从而常使这一算法所得结果还

关键词：权函数相对误差测定值粉末法测量误差观测值晶胞参数测量平差最小二乘拟合最小二乘配置外推修正指标线条国画技法计算方法

试金富集ICP粉末法分析矿物中微量铂族元素和金

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岩石矿物学杂志 1983年第4期 300-303页

作者：周维新云南省地质矿产局实验室

我们从地质矿物试样分析的特点出发,采用高频火花放电,将粉末试样变成粒子雾状,随戴气流引入等离子炬,开展了ICP固体粉末法的工作。本文介绍的是铂族矿物经过锍试金、锑试金富集然后以粉末形式引入等离子炬激发,定量分析硫化铜镍矿中的... 详细信息

我们从地质矿物试样分析的特点出发,采用高频火花放电,将粉末试样变成粒子雾状,随戴气流引入等离子炬,开展了ICP固体粉末法的工作。本文介绍的是铂族矿物经过锍试金、锑试金富集然后以粉末形式引入等离子炬激发,定量分析硫化铜镍矿中的微量贵金属元

关键词：试金熔剂粉末法焊接材料贵金属铂族元素矿物富集 ICP

同时鉴定斜长石成分和结构状态的X射线粉末法

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中国科学 1981年第1期 61-66页

作者：苏树春叶大年中国科学院地质研究所

将2θ（■04）-2θ（400）角度差（称为E函数）,与△θ1=2θ（131）-2θ（1■1）,△θ2=2θ（■41）-2θ（24■）,Γ=2θ（131）+2θ（220）-4θ（1■1）或△θ1-△θ2等角度差相配合,可以对An0—An70范围内的斜长石An含量和结构状态作... 详细信息

将2θ（■04）-2θ（400）角度差（称为E函数）,与△θ1=2θ（131）-2θ（1■1）,△θ2=2θ（■41）-2θ（24■）,Γ=2θ（131）+2θ（220）-4θ（1■1）或△θ1-△θ2等角度差相配合,可以对An0—An70范围内的斜长石An含量和结构状态作出合理的鉴定.将E=2θ（■04）-2θ（400）CuKα分别投于△θ1—An（mol％）,△θ2—An（mol％）,Γ—An（mol％）和△θ1—△θ2—An（mol％）图中,即得到四个鉴定图（图1—4）.运用本文的方法,在一未知斜长石的x射线粉末衍射图中测定出所需反射的2θ值,再将有关的2θ差值投于相应的鉴定图中,便可容易地同时鉴定出该斜长石的An含量和结构状态.

关键词：斜长石粉末法角度差结构状态