再谈粉末法测低对称晶胞参数的计算方法

作     者：孙以谏 Sun Yijian (IGMR, Nanjing)

作者机构：南京地质矿产研究所 

出 版 物：《中国地质科学院南京地质矿产研究所所刊》 

年 卷 期：1985年第2期

页      面：56-61页

学科分类：070801[理学-固体地球物理学] 07[理学] 08[工学] 0708[理学-地球物理学] 0816[工学-测绘科学与技术] 

主　　题：权函数 相对误差 测定值 粉末法 测量误差 观测值 晶胞参数 测量平差 最小二乘拟合 最小二乘配置 外推 修正指标 线条 国画技法 计算方法 

摘      要：前文已给出了计算低对称晶胞参数的结晶学与数学原理及其算法的一般程序。通过近几年对多种系列硅酸盐造岩矿物的计算实践,笔者又对所提方法作了某些改进。本文是对这一问题研究成果的小结。 关于过去的算法,一个基本的想法是,尽可能多地利用X光粉末图上可观测到的线来计算,因而采用了逐步扩大线条数目的修正指标化与加权最小二乘拟合修正参数交替迭代的方法。固然它在辉石、长石等系列矿物的计算中,曾经多次成功地实现了计算,但更多地实践表明,由于粉末图上出现的一些宽峰和弥散线很难通过修正指标化方法指定正确的指标,要是勉强利用这些线,反而会增大误差,从而常使这一算法所得结果还