检索结果-南通市图书馆

基于可重构MUXs网络的低功耗测试数据压缩方法

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电子学报 2011年第5期39卷 1190-1193页

作者：刘军吴玺韩银和李晓维合肥工业大学计算机与信息学院安徽合肥230009 中国科学院计算技术研究所系统结构重点实验室北京100190 中国科学院研究生院北京100049

测试数据和测试功耗是集成电路测试时关注的两个主要问题.为缩减测试数据体积和降低测试功耗,提出了一种基于可重构MUXs网络的低功耗测试数据压缩方法.这种方法在保持压缩率不变的前提下,充分利用MUXs网络中"空闲"的测试通道来降低测试... 详细信息

测试数据和测试功耗是集成电路测试时关注的两个主要问题.为缩减测试数据体积和降低测试功耗,提出了一种基于可重构MUXs网络的低功耗测试数据压缩方法.这种方法在保持压缩率不变的前提下,充分利用MUXs网络中"空闲"的测试通道来降低测试功耗.在降低测试功耗原则的指导下,将一些"有用"的测试通道进行拆分,即将这些"有用"通道驱动的一部分扫描链改由"空闲"的通道来驱动.提出了怎样选择通道,怎样将选择的通道进行拆分方法.实验结果表明建议的方法有效降低了测试时的平均功耗和峰值功耗.

关键词：低功耗测试数据压缩可重构 MUXs网络

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应用对称编码的测试数据压缩解压方法

计算机研究与发展 2011年第12期48卷 2391-2399页

作者：梁华国蒋翠云罗强合肥工业大学电子科学与应用物理学院合肥230009 合肥工业大学数学学院合肥230009 合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009

随着超大规模集成电路制造技术的快速发展,单个芯片上已能够集成的晶体管数目越来越多.由于各种知识产权芯核集成到一个芯片上,这样给集成电路测试带来了巨大的挑战,测试数据压缩技术能够有效降低对昂贵的ATE性能要求.提出一种对称编码... 详细信息

随着超大规模集成电路制造技术的快速发展,单个芯片上已能够集成的晶体管数目越来越多.由于各种知识产权芯核集成到一个芯片上,这样给集成电路测试带来了巨大的挑战,测试数据压缩技术能够有效降低对昂贵的ATE性能要求.提出一种对称编码方法,能有效地提高测试数据压缩率,降低测试成本.传统的编码技术采用对0游程或1游程进行编码,但由于ATPG工具生成的测试集中存在大量的无关位(X位),因此以前编码方法未能有效利用测试集的特征.该方法采用对称计算游程的方法,它同时对提出的4类对称性游程编码,且能减短对应码字长度,有效提高压缩率.实验结果和理论分析表明该方案能较以往方法能取得很好的压缩效果,且能适应多样编码对象,硬件结构简单易行.

关键词：测试数据压缩 SoC测试游程无关位 SVC编码

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动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法

计算机辅助设计与图形学学报 2010年第11期22卷 2013-2020页

作者：刘军韩银和李晓维中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所北京100190 合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009 中国科学院研究生院北京100049

为减少测试数据存储容量,提出一种动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法.使用3个扫描切片作为参考切片,若扫描切片与参考切片相容时,仅需2位或4位就可编码这个扫描切片,否则这个扫描切片将替换一个参考切片;当扫描切片与多个参考切... 详细信息

为减少测试数据存储容量,提出一种动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法.使用3个扫描切片作为参考切片,若扫描切片与参考切片相容时,仅需2位或4位就可编码这个扫描切片,否则这个扫描切片将替换一个参考切片;当扫描切片与多个参考切片相容时,提出了有选择的相容合并策略,以进一步提高压缩率.实验结果表明,与同类方法相比,文中方法具有更高的测试压缩率.

关键词：测试数据压缩扫描切片参考切片压缩率相容

一种用于测试数据压缩的自适应EFDR编码方法

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电子与信息学报 2015年第10期37卷 2529-2535页

作者：邝继顺周颖波蔡烁湖南大学信息科学与工程学院长沙410082

该文提出一种用于测试数据压缩的自适应EFDR(Extended Frequency-Directed Run-length)编码方法。该方法以EFDR编码为基础,增加了一个用于表示后缀与前缀编码长度差值的参数N,对测试集中的每个测试向量,根据其游程分布情况,选择最合适的... 详细信息

该文提出一种用于测试数据压缩的自适应EFDR(Extended Frequency-Directed Run-length)编码方法。该方法以EFDR编码为基础,增加了一个用于表示后缀与前缀编码长度差值的参数N,对测试集中的每个测试向量,根据其游程分布情况,选择最合适的N值进行编码,提高了编码效率。在解码方面,编码后的码字经过简单的数学运算即可恢复得到原测试数据的游程长度,且不同N值下的编码码字均可使用相同的解码电路来解码,因此解码电路具有较小的硬件开销。对ISCAS-89部分标准电路的实验结果表明,该方法的平均压缩率达到69.87%,较原EFDR编码方法提高了4.07%。

关键词：测试数据压缩 EFDR(Extended Frequency-Directed Run-length)编码自适应EFDR编码解码

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应用扩展前缀编码的测试数据压缩方案

计算机辅助设计与图形学学报 2008年第3期20卷 378-383页

作者：时峰梁华国詹文法合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009

提出一种扩展前缀编码的测试数据压缩方案,采用变长到变长的编码方式对任意长度的0游程和1游程编码,代码字由前缀和尾部组成,用扩展的前缀表明编码的游程类型;不引入额外的标记位,并能有效地压缩芯片测试数据量.理论分析和实验结果表明... 详细信息

提出一种扩展前缀编码的测试数据压缩方案,采用变长到变长的编码方式对任意长度的0游程和1游程编码,代码字由前缀和尾部组成,用扩展的前缀表明编码的游程类型;不引入额外的标记位,并能有效地压缩芯片测试数据量.理论分析和实验结果表明:扩展前缀编码能取得比FDR编码更高的压缩率,能够更好地适应于多样的编码对象.解压时使用一种特殊的计数器简化控制电路,解码电路硬件开销小且较易实现.

关键词：测试数据压缩压缩/解压扩展前缀编码

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一种有效的片上系统测试数据压缩算法

西安电子科技大学学报 2006年第1期33卷 1-4,10页

作者：方建平郝跃西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室陕西西安710071

测试数据的规模和容量直接影响了片上系统的测试成本,故提出了一种测试数据编码的压缩算法———M in Comp.该方法采用不等间距的编码方式,根据测试数据中游程长度的统计分布情况来调整各组数据的大小,从而提高测试数据的压缩率,降低了... 详细信息

测试数据的规模和容量直接影响了片上系统的测试成本,故提出了一种测试数据编码的压缩算法———M in Comp.该方法采用不等间距的编码方式,根据测试数据中游程长度的统计分布情况来调整各组数据的大小,从而提高测试数据的压缩率,降低了测试成本.为了使编码算法对应的解码电路的硬件开销最小化,该算法还引入了前后缀标识位的概念,这样可减小解码电路的规模和复杂度.对ISCAS89benchm ark电路的实验结果表明,采用M in Comp编码方式的压缩效率要比Golomb等编码方法好,而且实现方式简单.

关键词：测试数据压缩哈夫曼编码 Golomb编码 Min_Comp编码

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采用字典词条衍生模式的测试数据压缩

电子与信息学报 2012年第1期34卷 231-235页

作者：刘杰易茂祥朱勇阜阳师范学院物理与电子科学学院阜阳236037 合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009 合肥工业大学电子科学与应用物理学院合肥230009

为了降低数字集成电路测试成本,压缩预先计算的测试集是一种有效的解决途径。该文根据索引位数远少于字典词条,以及测试数据中存在大量无关位,提出一种采用词条衍生和二级编码的字典压缩方案。该方案引入循环移位操作,确保无关位按序任... 详细信息

为了降低数字集成电路测试成本,压缩预先计算的测试集是一种有效的解决途径。该文根据索引位数远少于字典词条,以及测试数据中存在大量无关位,提出一种采用词条衍生和二级编码的字典压缩方案。该方案引入循环移位操作,确保无关位按序任意移动而不丢失,从而扩大词条衍生性能,减少非词条向量个数。另外,采用规则的两级编码可以减少码字数量和解压电路的复杂度。实验结果表明该文所提方案能够进一步提高测试数据压缩率,减少测试时间。

关键词：集成电路测试数据压缩字典压缩方案循环移位

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一种基于相邻位异或运算的测试数据压缩方法

系统仿真学报 2015年第11期27卷 2756-2761页

作者：程一飞詹文法安庆师范学院计算机与信息学院安徽安庆246001 安庆师范学院科研处安徽安庆246001

压缩测试数据是降低测试成本的一种非常有效的手段。提出了一种基于相邻位异或运算的测试数据压缩方法,该方法通过将当前位与其前一位进行异或运算,将测试集中0游程和1游程转换成0游程,01和10交替序列转换成1游程,对转换后的游程进行编... 详细信息

压缩测试数据是降低测试成本的一种非常有效的手段。提出了一种基于相邻位异或运算的测试数据压缩方法,该方法通过将当前位与其前一位进行异或运算,将测试集中0游程和1游程转换成0游程,01和10交替序列转换成1游程,对转换后的游程进行编码。该方法可以减少测试集划分数量;也可以增加最短可编码的划分长度,即可编码的最短划分长度由传统的0变成2,从而达到在不额外增加解码电路硬件开销的前提下进一步提高压缩率。用实验验证了本方法具有极高的压缩效率。

关键词：测试数据压缩异或运算游程 FDR(Frequency Directed Run-Length)

快速查找最佳有理渐近分数的测试数据压缩方法

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系统仿真学报 2018年第6期30卷 2384-2389页

作者：吴海峰詹文法程一飞安庆师范大学计算机与信息学院安徽安庆246011 安庆师范大学科研处安徽安庆246011

测试数据量的快速增长成为导致测试时间增加、制造成本提高的一个主要因素。为减少测试数据量,提出一种快速查找最佳有理渐近分数的编码压缩方法。不直接存储游程数据,而是将游程数据转换成浮点数,快速查找浮点数对应的最佳有理渐近分数... 详细信息

测试数据量的快速增长成为导致测试时间增加、制造成本提高的一个主要因素。为减少测试数据量,提出一种快速查找最佳有理渐近分数的编码压缩方法。不直接存储游程数据,而是将游程数据转换成浮点数,快速查找浮点数对应的最佳有理渐近分数,最终以整数分子和整数分母的形式存储游程出现的规律。该方法相容于传统的编码方法,压缩和解压协议简单,压缩效果好,硬件开销小。仿真实验结果证明了该方法的有效性和稳定性,与国内外同类方法相比具有一定优势。

关键词：测试数据压缩最佳有理渐近分数游程长度浮点数