一种基于相邻位异或运算的测试数据压缩方法
Adjacent Bit XOR Operation Based Test Data Compression Method作者机构：安庆师范学院计算机与信息学院安徽安庆246001 安庆师范学院科研处安徽安庆246001
出 版 物：《系统仿真学报》 (Journal of System Simulation)
年 卷 期：2015年第27卷第11期
页 面：2756-2761页
核心收录：
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
主 题：测试数据压缩 异或运算 游程 FDR(Frequency Directed Run-Length)
摘 要：压缩测试数据是降低测试成本的一种非常有效的手段。提出了一种基于相邻位异或运算的测试数据压缩方法,该方法通过将当前位与其前一位进行异或运算,将测试集中0游程和1游程转换成0游程,01和10交替序列转换成1游程,对转换后的游程进行编码。该方法可以减少测试集划分数量;也可以增加最短可编码的划分长度,即可编码的最短划分长度由传统的0变成2,从而达到在不额外增加解码电路硬件开销的前提下进一步提高压缩率。用实验验证了本方法具有极高的压缩效率。
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