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四探针和双四探针法测量非晶态薄膜合金电阻的研究

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集美大学学报（自然科学版） 1998年第1期3卷 27-31页

作者：黄志高林仁荣赖恒陈素英祁建辉福建师范大学福州350007 福建农业大学

研究了四探针和双四探针法测量非晶态薄膜合金电阻的几何尺寸效应，提出了一种高精度测量非晶态窄带薄膜合金电阻的新方法，理论和实验的研究结果都证明了这种方法的可行性。

关键词：四探针法非晶态合金薄膜电阻双四探针法

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用特殊金属四探针法测量半导体陶瓷电阻率

传感器技术 1989年第2期8卷 33-36页

作者：张郁华广州半导体材料研究所

为了解决用探针法直接测量半导体陶瓷电阻率的难题,必须了解这种特殊材料的性质。半导体陶瓷是结构不理想的晶粒体,是含有气孔、玻璃相及晶界层的多晶多相体,其结构远比锗、硅单晶要复杂。探针与陶瓷材料相接触,问题首先集中表现在半导... 详细信息

为了解决用探针法直接测量半导体陶瓷电阻率的难题,必须了解这种特殊材料的性质。半导体陶瓷是结构不理想的晶粒体,是含有气孔、玻璃相及晶界层的多晶多相体,其结构远比锗、硅单晶要复杂。探针与陶瓷材料相接触,问题首先集中表现在半导体陶瓷表面比较复杂,有一层氧的化学吸附层。

关键词：半导体陶瓷电阻率测量四探针法

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四探针法测量土壤电阻率的探讨(英文)

云南师范大学学报（自然科学版） 2008年第1期28卷 53-57页

作者：李树晨和伟付昆鹏付小芮云南师范大学物理与电子信息学院云南昆明650092

文章对四探针法测量土壤电阻率的原理进行了研究。假设大地表面层土壤全为同一电阻率为ρ的均匀介质,当接地器中有恒定电流流过时,在土壤中建立了恒定电场,恒定电场满足拉普拉斯方程,依据球坐标系下的拉普拉斯方程,得到了土壤中任意一... 详细信息

文章对四探针法测量土壤电阻率的原理进行了研究。假设大地表面层土壤全为同一电阻率为ρ的均匀介质,当接地器中有恒定电流流过时,在土壤中建立了恒定电场,恒定电场满足拉普拉斯方程,依据球坐标系下的拉普拉斯方程,得到了土壤中任意一点的电位的解。在四探针严格地位于一条直线的方法,并分析了与土壤电阻率有关的因素,为电力系统的接地技术提供了重要参考依据。

关键词：四探针法土壤电阻率恒定电场平均值接地技术

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四探针法在半导体测试技术中的应用

四探针法在半导体测试技术中的应用

第二十届中国（天津）’2006IT、网络、信息技术、电子、仪器仪表创新学术会议

作者：谢莉莉汪鹏天津职业大学

本文对测量半导体样品电阻率的四探针法进行了介绍,详细讨论了直排四探针法和双电测四探针法的测量方法并给出了相应计算电阻率的公式,给出了直排四探针法厚度修正公式,比较了两类方法的优缺点。

关键词：电阻率四探针法厚度修正

来源： cnki会议 cnki会议评论

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四探针法测聚苯胺膜电导率的探讨

青岛科技大学学报（自然科学版） 2010年第3期31卷 299-302页

作者：孙雪丽李国伟吴其晔青岛科技大学橡塑材料与工程教育部重点实验室山东青岛266042

采用分散聚合反应体系,原位沉积制备聚苯胺/聚酰亚胺/聚苯胺(PANI/PI/PANI)导电复合膜。根据四探针法测量薄片电导率时对厚度的修正理论,推导出厚度在数字式四探针测量仪厚度修正范围之外的聚苯胺膜电导率测试值的"厚度修正"方法。为验... 详细信息

采用分散聚合反应体系,原位沉积制备聚苯胺/聚酰亚胺/聚苯胺(PANI/PI/PANI)导电复合膜。根据四探针法测量薄片电导率时对厚度的修正理论,推导出厚度在数字式四探针测量仪厚度修正范围之外的聚苯胺膜电导率测试值的"厚度修正"方法。为验证该厚度修正方法的准确性,将所制备的同等电化学性质的聚苯胺颗粒进行压片,制备出厚度在现有测量仪厚度修正范围之内的聚苯胺薄片,并用四探针法测其电导率。对比2种方法所测的聚苯胺电导率,结果表明,2种方法测得的电导率数量级一致,说明该厚度修正方法是相对准确的。

关键词：聚苯胺膜电导率四探针法厚度修正

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硅单晶电阻率四探针法测量不确定度评定

中国计量学院学报 2016年第3期27卷 258-263页

作者：徐博楼春兰王建刘欢浙江省电子信息产品检验所浙江杭州310007 浙江省硅材料质量检验中心浙江开化324300

按照GB/T 1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》,用四探针法测量硅单晶的电阻率,分析了测试过程中的不确定度来源并量化各分量,计算出了该方法的合成标准不确定度和扩展不确定度.

关键词：四探针法单晶硅电阻率测量不确定度

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基于四探针法测量玉米叶片电阻率的研究

内蒙古农业大学学报（自然科学版） 2015年第5期36卷 84-89页

作者：陈晨郭小鹏杨威左月明山西农业大学工学院太谷030801

本文对四探针法测试薄层材料电阻率的原理进行了论述,重点分析了直线型四探针测量原理,并应用该原理制作了测试装置。利用自制四探针对已知电阻率的ITO导电玻璃基片进行测量,结果表明该装置是精确可靠的。通过将四探针装置与电化学工作... 详细信息

本文对四探针法测试薄层材料电阻率的原理进行了论述,重点分析了直线型四探针测量原理,并应用该原理制作了测试装置。利用自制四探针对已知电阻率的ITO导电玻璃基片进行测量,结果表明该装置是精确可靠的。通过将四探针装置与电化学工作站四电极系统相结合对玉米叶片进行测试,计算出叶片电阻率并与传统恒流源产生电压响应的方法进行比较。结果表明:利用四探针测试方法,借助电化学工作站四电极系统可以准确快捷地测定叶片的电阻率,并为进一步研究植物叶片的电特性提供了重要参考。

关键词：四探针法玉米叶片电阻率

用四探针法测量矩形半导体电阻率时的修正函数

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物理学报 1963年第6期 370-383页

作者：宿昌厚

本文对于应用四探针法测量矩形半导体电阻率问题进行理论分析,在同时考虑样品有限长、宽、厚三个几何尺寸对测量过程的影响的条件下导出修正函数的一般公式,并把根据这些公式计算的一些修正因子列成数据表。指出了为减小电阻率的测量误... 详细信息

本文对于应用四探针法测量矩形半导体电阻率问题进行理论分析,在同时考虑样品有限长、宽、厚三个几何尺寸对测量过程的影响的条件下导出修正函数的一般公式,并把根据这些公式计算的一些修正因子列成数据表。指出了为减小电阻率的测量误差,除了提高测量设备的精确度和改进测量技术外,正确的选择修正因子也是一个重要因素。

关键词：薄片样品电阻率电阻系数修正函数四探针法厚度电位差修正因子导体材料测量过程半导体电阻有限长数据表

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探针压力对四探针法测量银薄膜电阻率的影响

科技创新导报 2010年第28期7卷 98-99页

作者：邱邃宇于明鹏邱宏清华大学附属中学高一(3)班北京科技大学物理系北京100083

本文用四探针法测量了220纳米厚的银薄膜的电阻率,研究了探针压力对银薄膜电阻率的影响。结果表明:随着探针压力从1.47牛顿增大到4.41牛顿,银薄膜的电阻率略微增大,最大探针压力时的电阻率比最小探针压力时的电阻率大约增加了7%。

关键词：四探针法探针压力银薄膜电阻率