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主题

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作者

  • 2 篇 章肖融
  • 2 篇 施柏煊
  • 2 篇 张仲
  • 2 篇 干昌明
  • 2 篇 侯庆军
  • 2 篇 吴周令
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  • 1 篇 曾胜财
  • 1 篇 范正修
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  • 1 篇 李向柯
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  • 1 篇 张柏顺
  • 1 篇 刘春彦
  • 1 篇 张奉军
  • 1 篇 肖季驹
  • 1 篇 何军锋

语言

  • 16 篇 中文
检索条件"主题词=光热偏转技术"
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光热偏转技术测量Sr_(2-x)Sm_xFeMoO_6材料的热扩散率
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光学技术 2008年 第3期34卷 348-351页
作者： 张仲 陈康 侯庆军 刘春彦 济南大学理学院 济南250022
采用固体烧结法制备了Sr2-xSmxFeMoO6(x=0,0.03,0.05,0.08,0.10,0.13,0.15,0.20)多晶结构样品,用X射线衍射对材料的结构进行了检测。通过光热偏转技术方法对该材料的热扩散率进行了研究,给出了掺杂比例与材料热扩散率的关系曲线,结果发... 详细信息
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横向光热偏转技术检测双硫腙（H_2Dz）固体试样光谱特性
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分析测试学报 1995年 第1期14卷 25-28页
作者： 肖季驹 林太基 程祖良 赖奇略 香港城市理工学院应用科学系 华东工学院近代光学技术应用研究所中国科学院生态环境研究中心
用横向光热偏转技术测量双硫踪（Ｈ_２Ｄｚ）固体试样的光谱特性及Ｈ_２Ｄｚ的浓度与横向光热偏转幅度之间的关系，检测限可达ｎｇ量级，为固体不透明材料的微量特性分析提供了一个简便的方法。
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基于光热偏转技术的Nd：YAG板条缺陷检测研究
基于光热偏转技术的Nd：YAG板条缺陷检测研究
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作者： 李向柯 电子科技大学
学位级别：硕士
掺钕钇铝石榴石(Nd:YAlO,Nd:YAG)具有硬度高、光学均匀性好、热导性能好,物化稳定性高,激光性能好且生产工艺成熟等优点,以掺钕钇铝石榴石作为工作物质的激光器在工业生产检测、医疗设备和军事武器等方面获得了广泛的应用。由于光学材... 详细信息
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无损检测固体表面、次表面不均匀性和缺陷的激光光热偏转技术
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测试技术学报 1996年 第3期10卷 600-605页
作者： 施伯煊 浙江大学 杭州310027
本文介绍非接触无损检测固体物质表面、次表面不均匀性和缺陷的激光光热偏转技术,设计并建立了测量装置。文中列出了对光学薄膜弱吸收率的测量,对碳素纤维材料、光学薄膜表面激光损伤和对金属材料次表面模拟缺陷的成像检测等一些应用的... 详细信息
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阶跃光激励的光热偏转技术的理论研究
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赣南师范大学学报 2022年 第6期43卷 56-60页
作者： 曾胜财 厦门海洋职业技术学院信息工程学院 厦门361100
基于光热偏转技术,在阶跃光激励下,样品和偏转媒质的一维温度分布和光热偏转信号幅度将随时间和空间发生变化.利用拉普拉斯变换求得其温度分布和信号幅度的表达式,并计算模拟偏转媒质的温度场、温度梯度随时间的变化,以及探测光离样品... 详细信息
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用透射式光热偏转技术测量光学薄膜的微弱吸收率
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计量学报 1989年 第2期10卷 160-161页
作者： 吴周令 施柏煊 唐晋发 浙江大学光仪系
建立了一套透射式光热偏转光谱术实验装置,将它应用于光学薄膜微弱吸收率的测量,灵敏度可达10-6,实验结果与用激光量热法及横向光热偏转法所得者皆符合良好。
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用光热偏转技术对金属亚表面缺陷成像
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中国激光 1988年 第2期 89-93页
作者： 章肖融 干昌明 南京大学声学研究所
报道用光热偏转技术(又称蜃景效应)对金属亚表面缺陷成象的实验系统和实验结果.实验表明这一方法对于完全无接触式地研究材料亚表面结构具有很大的应用潜力.
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金属材料次表面缺陷成像检测系统及其应用
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光子学报 2004年 第10期33卷 1207-1209页
作者： 沈剑峰 施柏煊 现代光学仪器国家重点实验室浙江大学光电系 杭州浙江310027
介绍了一种基于光热光偏转检测技术的原理 ,可以检测金属材料次表面缺陷空间分布的激光热波探测系统 该系统具有结构紧凑 ,调试简便 ,运行稳定 ,测试结果可靠的特点 ,它用半导体激光作泵浦光源和探测光源 ,采用电源调制的方式对泵浦光... 详细信息
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利用激光光热技术研究钛酸钡材料的导热性能
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光学技术 2006年 第4期32卷 621-622,626页
作者： 王培吉 周忠祥 梁伟 张奉军 张仲 范素华 哈尔滨工业大学理学院 哈尔滨150001 济南大学理学院 济南250022
利用激光光热偏转技术测量了钛酸钡材料的热扩散率。根据所测量材料的光热光偏转信号,通过最小二乘法中的非线性拟合,直接拟合出了材料的热扩散率,克服了光热偏转技术中“Mirage effect”步骤多、计算复杂、误差大的缺点。测量了在不同... 详细信息
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光学薄膜热膨胀系数的研究
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光学学报 1990年 第4期10卷 369-373页
作者： 吴周令 范正修 中国科学院上海光学精密机械研究所
光热位移偏转技术结合横向光热偏转技术可用于研究薄膜样品的热膨胀系数.本文以SiO_2、TiO_2、ZrO_2、MgF_2、ThF4等单层光学薄膜为例.报道相关的实验方法及实验结果.
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