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光学薄膜热膨胀系数的研究

Measurement of thermal expansion coefficients of optical thin films

作     者:吴周令 范正修 

作者机构:中国科学院上海光学精密机械研究所 

出 版 物:《光学学报》 (Acta Optica Sinica)

年 卷 期:1990年第10卷第4期

页      面:369-373页

核心收录:

学科分类:08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 

主  题:光学薄膜 热膨胀系数 光热偏转技术 

摘      要:光热位移偏转技术结合横向光热偏转技术可用于研究薄膜样品的热膨胀系数.本文以SiO_2、TiO_2、ZrO_2、MgF_2、ThF4等单层光学薄膜为例.报道相关的实验方法及实验结果.

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