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Photolithography by a tunable electro-optical lithium niobate phase array

Optoelectronics Letters 2007年第4期3卷 243-245页

作者： M. Paturzo C. Del Core S. Grilli S.De Nicola P. Ferraro P. De Natale G. Coppola M. Iodice M. Gioffré Istituto Nazionale di Ottica Applicata del CNR and LENS-European Laboratory for Nonlinear Spectroscopy Via Campi Flegrei 34 80078 Pozzuoli (Na) Italy Istituto Microelettronica e Microsistemi del CNR Via P. Castellino 111 80131 Napoli Italy

Photolithography experiments are performed by means of an optical phase mask with electrooptically tunable phase step. The phase mask consists of a 2-dimensional hexagonal lattice of inverted ferroelectric domains fabricated on a z-cut/ithium niobate substrate. The electro-optically tunable phase step, between inverted domain, is obtained by the application of an external electric field along the z axis of the crystal via transparent electrodes. The collimated beam of an argon laser passes through the phase mask and the near field intensity patterns, at different planes of the Talbot length and for different values of the applied voltage, are used for photolithographic experiments. Preliminary results are shown and further applications are discussed.

关键词：电光学光刻实验铁电物质锂铌酸盐

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