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检索条件"作者=Sebastian hagemeier"
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FEM-based modeling of microsphereenhanced interferometry
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Light(Advanced Manufacturing) 2022年 第4期3卷 73-85页
作者: Tobias Pahl Lucie Hüser sebastian hagemeier Peter Lehmann Measurement Technology Group Faculty of Electrical Engineering and Computer ScienceUniversity of KasselWilhelmshöher Allee 7134121 KasselGermany
To improve the lateral resolution in microscopic imaging,microspheres are placed close to the object’s surface in order to support the imaging process by optical near-field *** microsphere-assisted measurements are p... 详细信息
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