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检索条件"作者=P.J.Parbrook"
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Scanning electron microscope as a flexible tool for investigating the properties of UV-emitting nitride semiconductor thin films
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photonics Research 2019年 第11期7卷 I0017-I0026页
作者: C.Trager-Cowan A.Alasmari W.Avis j.Bruckbauer p.R.Edwards B.Hourahine S.Kraeusel G.Kusch R.johnston G.Naresh-Kumar R.W.Martin M.Nouf-Allehiani E.pascal L.Spasevski D.Thomson S.Vespucci p.j.parbrook M.D.Smith j.Enslin F.Mehnke M.Kneissl C.Kuhn T.Wernicke S.Hagedorn A.Knauer V.Kueller S.Walde M.Weyers p.-M.Coulon p.A.Shields Y.Zhang L.jiu Y.Gong R.M.Smith T.Wang A.Winkelmann Department of physics supauniversity of strathclydeglasgow G4 onguk Tyndall national institute university college corkcork t12 r5cpireland Institute of solid state physics lechnische universitat berlin10623 berlingermany Ferdinand-braun-lnstitut leibniz-lnstitut fur hochstfrequenztechnik12489 berlingermany Department of electronic and electrical engineering centre of nanoscience&nanotechnologyuniversity of bathbath ba27ayuk Department of electronic and electrical engineering university of sheffieldsheffield s13jduk Laser components department laser zentrum hannover 5.v.30419 hannovergermany
In this paper we describe the scanning electron microscopy techniques of electron backscatter diffraction, electron channeling contrast imaging, wavelength dispersive X-ray spectroscopy, and cathodoluminescence hypers... 详细信息
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