咨询与建议
  • 全部检索
  • 电子图书
  • 电子期刊
  • 纸本馆藏
  • 南通市公共图书馆
高级检索

限定检索结果

文献类型

  • 1 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 1 篇 理学
    • 1 篇 物理学
    • 1 篇 化学
  • 1 篇 工学
    • 1 篇 机械工程
    • 1 篇 材料科学与工程（可...
    • 1 篇 电气工程
    • 1 篇 电子科学与技术（可...

主题

  • 1 篇 schottky contact
  • 1 篇 ultrasound influ...
  • 1 篇 leakage current

机构

  • 1 篇 faculty of physi...
  • 1 篇 v lashkaryov ins...

作者

  • 1 篇 ja m.olikh
  • 1 篇 k.v.voitenko
  • 1 篇 r.m.burbelo
  • 1 篇 o.ya olikh

语言

  • 1 篇 英文
检索条件"作者=O.Ya olikh"
共 1 条 记 录，以下是1-10 订阅
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到"检索档案"
详细 简洁
排序：
Effect of ultrasound on reverse leakage current of silicon Schottky barrier structure
收藏
分享
引用
Journal of Semiconductors 2016年 第12期37卷 5-11页
作者： o.ya olikh K.V.Voitenko R.M.Burbelo Ja M.olikh Faculty of Physics Taras Shevchenko National University of Kyiv V Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics National Academy of Sciences of Ukraine
The influence of ultrasonic loading on reverse current-voltage characteristics of Mo/n-n＋-Si structures has been investigated. The research of leakage current variation has been carried out for various ultrasonic wav... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到“检索档案”
共1页 <<  < 1 >  >>
回到顶部
执行限定条件