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光学元件亚表面缺陷的损伤性检测方法

强激光与粒子束 2014年第12期26卷 129-133页

作者：王洪祥李成福朱本温王景贺哈尔滨工业大学机电工程学院哈尔滨150001

在磨削、研磨和抛光加工过程中产生的微裂纹、划痕、残余应力等亚表面缺陷会导致熔石英元件抗激光损伤能力下降,如何快速、准确地检测亚表面损伤成为光学领域亟待解决的关键问题。采用HF酸蚀刻法、角度抛光法和磁流变斜面抛光法对熔石... 详细信息

在磨削、研磨和抛光加工过程中产生的微裂纹、划痕、残余应力等亚表面缺陷会导致熔石英元件抗激光损伤能力下降,如何快速、准确地检测亚表面损伤成为光学领域亟待解决的关键问题。采用HF酸蚀刻法、角度抛光法和磁流变斜面抛光法对熔石英元件在研磨加工中产生的亚表面缺陷形貌特征及损伤深度进行了检测和对比分析,结果表明,不同检测方法得到的亚表层损伤深度的检测结果存在一定差异,HF酸蚀刻法检测得到的亚表面损伤深度要比角度抛光法和磁流变斜面抛光法检测结果大一些。且采用的磨粒粒径越大,试件表面及亚表面的脆性断裂现象越严重,亚表面缺陷层深度越大。

关键词：熔石英元件亚表面缺陷研磨加工损伤性检测亚表面裂纹

蝎毒抗癌多肽对X射线照射小鼠免疫功能的影响

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中华放射医学与防护杂志 2005年第2期25卷 134-135页

作者：杨志华刘培光温本孔天翰广东医学院附属湛江中心人民医院肿瘤中心湛江524037 广州医学院蛇毒研究所

放射治疗为治疗恶性肿瘤重要手段,但在治疗肿瘤的同时也会损害肿瘤患者免疫功能,引起严重的并发症.中草药制剂在预防和治疗放疗副反应方面发挥了积极作用.蝎毒抗癌多肽(antineoplastic polypeptide from buthus martensii venom,APBMV)... 详细信息

放射治疗为治疗恶性肿瘤重要手段,但在治疗肿瘤的同时也会损害肿瘤患者免疫功能,引起严重的并发症.中草药制剂在预防和治疗放疗副反应方面发挥了积极作用.蝎毒抗癌多肽(antineoplastic polypeptide from buthus martensii venom,APBMV)是从蝎毒中分离出的抗肿瘤有效成分[1],研究证明APBMV对多种肿瘤细胞及移植癌有明显的抑制作用[2-4].本研究主要是探讨APBMV对受X射线照射小鼠免疫功能表达的影响。

关键词：蝎毒抗癌多肽免疫功能照射小鼠 X射线抗肿瘤有效成分 APBMV 放疗副反应预防和治疗中草药制剂放射治疗肿瘤患者积极作用抑制作用肿瘤细胞功能表达恶性肿并发症移植癌

乳腺癌放疗期内应用苦参碱血清VEGF-A变化的临床意义

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中国实验诊断学 2011年第11期15卷 1916-1917页

作者：温本杨志华郑文滔湛江市中心人民医院肿瘤科广东湛江524037

近年来大量研究文献表明苦参碱具有抑制部分肿瘤细胞的增殖与转移，通过诱导肿瘤细胞的凋亡和分化，导至端粒酶和BCL-2表达的变化影响及抑制肿瘤转移等方面的研究取得了相应进展；同时也有许多研究显示血管内皮生长因子（VEGF-A）在许... 详细信息

近年来大量研究文献表明苦参碱具有抑制部分肿瘤细胞的增殖与转移，通过诱导肿瘤细胞的凋亡和分化，导至端粒酶和BCL-2表达的变化影响及抑制肿瘤转移等方面的研究取得了相应进展；同时也有许多研究显示血管内皮生长因子（VEGF-A）在许多肿瘤细胞的形成和分化及转移过程中起着重要作用。作者通过对放疗的乳腺癌患者随机分组使用岩舒（苦参碱）注射，并分别在治疗前、后检测其血清中VEGF-A，

关键词： VEGF-A 乳腺癌患者苦参碱放疗期临床意义血清抑制肿瘤转移血管内皮生长因子

抛光工艺参数对熔石英元件低频面形精度的影响

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强激光与粒子束 2015年第4期27卷 108-112页

作者：王洪祥朱本温陈贤华侯晶王景贺哈尔滨工业大学机电工程学院哈尔滨150001 中国工程物理研究院激光聚变研究中心四川绵阳621900

根据工件与抛光盘的相对运动关系及熔石英元件抛光加工材料去除模型,系统分析了转速比和偏心距等参数对材料去除函数的影响。通过理论分析和抛光加工实验,研究了不同工艺参数对低频段面形精度的影响规律。利用高分辨率检测仪器对熔石英... 详细信息

根据工件与抛光盘的相对运动关系及熔石英元件抛光加工材料去除模型,系统分析了转速比和偏心距等参数对材料去除函数的影响。通过理论分析和抛光加工实验,研究了不同工艺参数对低频段面形精度的影响规律。利用高分辨率检测仪器对熔石英元件低频面形误差进行了检测,优选出较佳的抛光工艺参数组合,并进行了相应的实验验证,提出了提高光学元件抛光加工低频面形质量的相应措施。

关键词：熔石英元件抛光加工工艺参数面形误差表面质量

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熔石英元件抛光加工表面残余应力的计算方法

哈尔滨工业大学学报 2015年第5期47卷 20-24页

作者：王洪祥侯晶严志龙朱本温陈贤华哈尔滨工业大学机电工程学院哈尔滨150001 中国工程物理研究院激光聚变研究中心四川绵阳621900

为解决传统检测方法无法直接定量检测非晶体熔石英玻璃表面残余应力的问题,基于脆性固体断裂力学理论,推导残余应力的理论计算公式,提出光学元件抛光加工表面残余应力计算新方法.采用尖锐压头进行纳米印压实验,提取压痕过程中对残余应... 详细信息

为解决传统检测方法无法直接定量检测非晶体熔石英玻璃表面残余应力的问题,基于脆性固体断裂力学理论,推导残余应力的理论计算公式,提出光学元件抛光加工表面残余应力计算新方法.采用尖锐压头进行纳米印压实验,提取压痕过程中对残余应力敏感的参数,并对实验数据进行线性拟合,确定拟合线的斜率,通过测量残余应力引起其他物理参数的变化计算残余应力.对比分析结果表明,计算得到残余应力值与应力双折射仪检测得到的数据基本吻合,验证了提出残余应力计算方法的正确性.

关键词：熔石英元件残余应力纳米压痕亚表面裂纹抛光加工表面

^(99m)Tc-HL91显像预测鼻咽癌放疗敏感性及疗效的临床价值

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广东医学 2009年第1期30卷 69-71页

作者：邓波温本刘培光陈小凤广东省湛江中心人民医院核医学科 524037 广东省湛江中心人民医院肿瘤科 524037

目的探讨99mTc-HL91显像预测鼻咽癌(NPC)放疗敏感性及疗效的临床价值。方法85例原发性NPC患者放疗前行99mTc-HL91SPECT断层显像,于早期(1h)和延迟(4h)影像利用感兴趣区(ROI)技术计算肿瘤摄取比值(T/N)。放疗后4周进行疗效评价,将患者分... 详细信息

目的探讨99mTc-HL91显像预测鼻咽癌(NPC)放疗敏感性及疗效的临床价值。方法85例原发性NPC患者放疗前行99mTc-HL91SPECT断层显像,于早期(1h)和延迟(4h)影像利用感兴趣区(ROI)技术计算肿瘤摄取比值(T/N)。放疗后4周进行疗效评价,将患者分为完全缓解(CR)、部分缓解(PR)、无变化(NC)和进展(PD)4组来比较各组的T/N值,并根据延迟显像T/N值的高低分为高摄取、低摄取和无摄取3组来进行疗效比较。结果延迟显像T/N值明显高于早期显像(t=5.481,P<0.01)。CR、PR、NC和PD4组早期显像的T/N值比较差异无显著性,而延迟显像的T/N值比较差异有显著性,以PD组T/N值最高,CR组T/N值最低。高摄取、低摄取和无摄取3组患者放疗疗效比较差异有显著性(2=9.321,P<0.01),以无摄取组最佳,高摄取组最差。结论鼻咽癌99mTc-HL91延迟显像图像质量较好,99mTc-HL91肿瘤摄取比值在预测肿瘤放疗敏感性及疗效方面有较大应用价值,有助于临床优化放疗方案,提高放疗成功率。

关键词：鼻咽癌缺氧放射性核素显像 HL91 放疗敏感性

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进展期直肠癌新辅助放化疗加热疗的疗效分析

中华全科医学 2013年第3期11卷 348-349,468页

作者：温本广东省湛江市中心人民医院肿瘤科 524037

目的观察新辅助放化疗、热疗联合腹腔镜手术治疗进展期直肠癌的临床效果。方法选择2010年1月-2012年6月住院治疗的86例进展期直肠癌患者为研究对象,应用随机数字表法将本研究入选患者分为对照组和观察组,每组43人,对照组患者进行新辅助... 详细信息

目的观察新辅助放化疗、热疗联合腹腔镜手术治疗进展期直肠癌的临床效果。方法选择2010年1月-2012年6月住院治疗的86例进展期直肠癌患者为研究对象,应用随机数字表法将本研究入选患者分为对照组和观察组,每组43人,对照组患者进行新辅助放化疗联合腹腔镜手术治疗,而观察组患者则在术前新辅助放化疗和热疗后再行腹腔镜手术治疗,比较对照组和观察组患者临床疗效和放化疗反应发生情况,比较对照组和观察组患者局部复发的情况。结果观察组患者的治疗总有效率(70.09%)明显高于对照组患者(51.16%),差异有统计学意义(P0.05)。结论新辅助放化疗、热疗联合腹腔镜手术治疗进展期直肠癌临床疗效确切,不良反应少,明显改善患者的预后,远期疗效有待进一步观察。

关键词：新辅助放化疗热疗腹腔镜手术进展期直肠癌局部复发

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光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法

哈尔滨工业大学学报 2018年第7期50卷 17-22页

作者：侯晶王洪祥王储王景贺朱本温哈尔滨工业大学机电工程学院哈尔滨150001 中国工程物理研究院激光聚变研究中心四川绵阳621900

为了实现光学元件亚表面损伤的低成本、快速、准确检测,提出一种光学元件亚表面损伤深度无损荧光检测方法.在研磨和抛光加工过程中添加纳米荧光量子点溶液作为标记物,量子点受到激发光辐照后能够产生荧光现象,然后利用激光共聚焦显微镜... 详细信息

为了实现光学元件亚表面损伤的低成本、快速、准确检测,提出一种光学元件亚表面损伤深度无损荧光检测方法.在研磨和抛光加工过程中添加纳米荧光量子点溶液作为标记物,量子点受到激发光辐照后能够产生荧光现象,然后利用激光共聚焦显微镜进行逐层扫描以获取被测样品不同深度处的切片图像,当扫描深度达到某一特定值时,荧光强度开始由强变弱,通过特征点荧光强度的变化最终确定光学元件的亚表面损伤深度.自行开发了亚表面损伤深度无损检测软件,检测软件具有图像阈值处理、亮点自动识别、图像显示和曲线表征等功能,可以实现光学元件亚表面损伤深度的快速无损检测.将无损检测结果与损伤性检测结果进行了对比分析,结果表明两种检测方法相对误差在10%以内,验证了提出的无损荧光检测方法的有效性.

关键词：光学元件亚表面损伤无损检测图像处理磁流变抛光