面阵CCD相应曲线的测量与非线性校正
作者单位：军械工程学院光学教研室
会议名称：《第九届全国光学测试学术讨论会》
会议日期：2001年
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
摘 要：CCD在图像传感领域的迅速发展,已完全取代了真空摄像管的成像系统,成为现代光电子学和测试技术中最为关注的研究热点之一。综合CCD的多种用途,本文讨论了CCD在测试技术应用中一个重要问题一非线性问题。1问题的引出CCD作为检测工具,其工作原理如下所示: