复合材料内部缺陷的短波长X射线衍射扫无损检测技术
作者单位：中国兵器工业第五九研究所 北京科技大学
会议名称：《第十届中国科协年会》
会议日期：2008年
学科分类：08[工学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
关 键 词：无损检测 短波长 X射线衍射扫描 复合材料 低Z材料
摘 要：本文实验研究了一种无损检测轻元素材料内部缺陷的短波长X射线衍射扫描技术,初步实验检测结果表明:短波长X射线衍射扫描无损检测铝材内部缺陷的空间分辨率优于2.5lp/mm(即可检测的缺陷线度小于0.2mm),缺陷定位准确,该技术可用于轻元素复合材料内部缺陷的无损检测,且检测缺陷的空间分辨率还可以大大提高。