基于嵌入式技术的半导体分立器件测试系统的开发

作     者：张东卫 

作者单位：东南大学 

学位级别：硕士

导师姓名：毛玉良

授予年度：2004年

学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 

主      题：半导体分立器件测试系统 μClinux 32位嵌入式处理器 JFFS文件系统 nA级漏电流 

摘      要：论文介绍了基于32位嵌入式处理器MCF5272,在嵌入式操作系统μClinux平台下,进行的半导体分立器件测试系统的软硬件开发工作。 本文首先介绍了当前嵌入式系统的发展状况、选用32位嵌入式处理器开发半导体分立器件测试系统的优势、以及嵌入式操作系统特别是μClinux的功能特点,总结了在32位处理器开发中应用嵌入式操作系统的优越性。分析了嵌入式系统开发调试过程中常用的两种方式,即串口调试和JTAG仿真器调试,重点介绍了运用串口调试方式在μClinux平台下的软件开发模式。 接着,介绍了半导体分立器件测试主机的功能结构。详细介绍了使用可编程逻辑器件,将32位处理器高速总线时序转换成适合测试设备总线宽度、相对低速的总线时序的软硬件实现方法。介绍了测试系统±800V电压的产生原理、实现方法及其电路设计特点等,以及nA级微弱漏电流的测试方法与硬件电路设计特点。 最后,介绍了分立器件测试系统下位机功能软件的设计,包括μClinux环境下的串口通信软件设计,上下位机底层控制协议的制订和实现,以及数据存储中出现的字节对齐和字节排序问题的解决。并且介绍了μClinux环境下在flash存储器上实现文件动态存储的方法,以及测试系统底层控制函数的封装。