硫腐蚀对绕组绝缘电寿命的影响及导致绝缘失效的故障机制研究

作     者：高思航 杨丽君 邓帮飞 丁咚 GAO Sihang;YANG Lijun;DENG Bangfei;DING Dong

作者机构：工业物联网与网络化控制教育部重点实验室(重庆邮电大学)重庆400065 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学)重庆400044 国网重庆市电力科学研究院重庆400015 

出 版 物：《高电压技术》 (High Voltage Engineering)

年 卷 期：2020年第46卷第5期

页      面：1612-1621页

核心收录：

学科分类：080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 

基　　金：国网江苏省电力有限公司科技项目(J2017034) 

主　　题：硫腐蚀沉积 绝缘绕组 电老化 电寿命 故障机制 

摘      要：硫腐蚀沉积已被证实会导致油浸式电力设备绝缘性能下降,进而引发绝缘故障。为探究硫腐蚀对设备绝缘击穿特性的影响,并进一步分析其导致绝缘失效的故障机制,在实验室制备了3种不同硫腐蚀程度的绝缘绕组样品,利用多样品绝缘材料的电老化试验平台,对3种不同硫腐蚀程度的绝缘绕组,分别开展了其短期击穿试验与4个不同电压下的加速电老化试验,并以绝缘击穿失效作为电寿命终点,以反幂函数作为电寿命模型,分别计算对比了其寿命指数。结果表明:硫腐蚀污染对多层绝缘纸包覆的绝缘绕组短期击穿强度影响不大,但会降低绕组的长期电寿命;相比于无腐蚀绕组样品,严重硫腐蚀绕组样品的电寿命指数下降了约19.38%,硫腐蚀产物在绕组上的沉积会明显导致绕组的长期电寿命下降。进一步结合不同硫腐蚀程度绕组样品的绝缘纸层的理化/电气特性参数变化测试结果,探讨了硫腐蚀沉积导致绕组绝缘失效的故障机制。