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升温对[100]_(cub)弛豫铁电PMN-32PT单晶电畴组态演变的影响

Effects of Temperature Field on Domain Configuration Evolution in the _(cub)-oriented Single Crystal of PMN-32PT by Heating

作     者:龙伟 惠增哲 李晓娟 罗海龙 焦藏桢 LONG Wei;XI Zengzhe;LI Xiaojuan;LUO Hailong;JIAO Zangzhen

作者机构:西安工业大学材料与化工学院西安710032 西安高压电器研究院有限责任公司西安710077 

出 版 物:《材料导报》 (Materials Reports)

年 卷 期:2012年第26卷第10期

页      面:36-38页

核心收录:

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 

基  金:国家自然科学基金(50872104 51072155) 

主  题:PMN-32PT单晶 电畴 相变 消光角 

摘      要:采用热台偏光显微镜观察以ACRT+Bridgman法获得、经过金相抛光处理的弛豫铁电PMN-32PT单晶[100]cub切型电畴组态,考察了未退火状态下[100]cub切型单晶的消光行为及连续升温对本征电畴与由抛光机械应力诱导非本征电畴组态的影响。结果表明,在升温过程中,PMN-32PT单晶非本征电畴在三方-四方铁电相变后消失;本征电畴组态的变化表现为两个阶段,第一阶段畴先细化后宽化,第二阶段进行铁电-顺电相变,相变过程缓慢,持续范围为168~177℃,且与三方-四方相变出现次序相反。

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