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压痕诱发GaAs和Si晶体塑性、损伤与断裂

Indentation-induced Plasticity,Damage and Fracture in Si and GaAs Single Crystals

作     者:徐永波 XU Yong-Bo

作者机构:中国科学院金属研究所沈阳国家材料科学实验室沈阳110016 

出 版 物:《无机材料学报》 (Journal of Inorganic Materials)

年 卷 期:2009年第24卷第6期

页      面:1081-1089页

核心收录:

学科分类:08[工学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 

主  题:微压痕 高分辨电镜 晶化与非晶化 裂纹尖端结构 傅立叶变换与逆变换 

摘      要:对压痕诱发脆性材料塑性、损伤与断裂研究进行总结,并结合与之有关学科研究进展予以评述.主要结果:微压痕诱导硅和砷化镓晶体的纳米和非晶转变,并发现这一转变的临界应力;转变过程是由切应力,并非静水压力控制;电子辐照诱导非晶晶化,并发现晶化临界条件;晶化速率与电流密度有关;压痕诱发的裂纹尖端不是原子尖的,其萌生与扩展伴随位错的产生,并由此引发点阵的畸变,并产生1~2nm宽非晶带;裂纹扩展沿非晶带发生,而非裂端前方原子键相继断裂的结果;经傅立叶变换和逆变换发现,裂纹尖端变形显示出各向异性.

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