HgCdTe多载流子体系的迁移率谱分析
MOBILITY SPECTRUM ANALYSIS OF MULTI CARRIER SYSTEM IN HgCdTe作者机构：中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室
出 版 物：《红外与毫米波学报》 (Journal of Infrared and Millimeter Waves)
年 卷 期：1998年第17卷第5期
页 面：327-332页
核心收录：
学科分类：08[工学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
基 金：国家自然科学基金
摘 要：通过迁移率谱分析法对ＬＰＥ和ＭＢＥ生长的ｎ－ＨｇＣｄＴｅ样品进行了研究，获得了样品中体电子、体空穴以及界面电子的迁移率和浓度．
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