XLPE绝缘老化中的单次放电波形统计分析

作     者：陈小林 黄宏新 成永红 CHEN Xiao-lin;HUANG Hong-xin;CHENG Yong-hong

作者机构：西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室西安710049 杭州市电力局生产技术处杭州310009 

出 版 物：《高电压技术》 (High Voltage Engineering)

年 卷 期：2007年第33卷第8期

页      面：10-12,80页

核心收录：

学科分类：0808[工学-电气工程] 080803[工学-高电压与绝缘技术] 08[工学] 

基　　金：教育部博士点基金(20060698003)。~~ 

主　　题：交联聚乙烯 电老化 局部放电 单脉冲 上升沿 下降沿 

摘      要：为了研究绝缘中发生局部放电的物理机制,对交联聚乙烯(XLPE)绝缘试样进行了加速电老化试验,使用超宽频带局部放电检测系统(频带10 MHz～3 GHz)测量了试样的放电信号,并通过统计分析超宽频带放电的单次脉冲信号探讨了XLPE绝缘老化过程中的放电机理。研究表明,XLPE绝缘电老化过程中单次放电波形的下降沿、脉冲幅值都有显著变化:下降沿从老化前的近15 ns上升到老化50 h的约90 ns,单次放电波形幅值在老化前约1 000 mV,老化15 h后维持在约200 mV,老化到30 h时上升到近500 mV,老化50 h时上升到约600 mV。由单次放电信号的波形特征推断XLPE绝缘老化过程中放电从流注型放电转化为汤姆逊放电的变化过程。