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CR技术与胶片射线照相技术检测能力的对比

Comparisons of Inspection Capability between CR Technology and Film Radiographic

作     者:马海全 李蓓 何有都 米刚 王洪勋 史亦韦 MA Hai-quan;LI Bei;HE You-du;MI Gang;WANG Hong-xun;SHI Yi-wei

作者机构:北京航空材料研究院北京100095 航空材料检测与评价北京市重点实验室北京100095 

出 版 物:《无损检测》 (Nondestructive Testing)

年 卷 期:2015年第37卷第12期

页      面:38-40,45页

学科分类:08[工学] 080502[工学-材料学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 

主  题:CR技术 胶片射线照相技术 IP板 

摘      要:对CR技术和胶片射线照相技术的记录介质结构、对比灵敏度以及缺陷检测能力进行了对比。结果表明,CR技术在对比灵敏度和缺陷检出能力方面,与胶片射线照相技术基本达到同等技术水平;CR技术具有比胶片射线照相技术宽容度大、曝光量小的优点,可大大提高工作效率,但CR技术对散射线较为敏感,在使用过程中应注意散射线的防护。

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