3.3keV—29.1keV能区Sn的X—射线衰减系数和光电截面(英文)
X-RAY ATTENUATION COEFFICIENTS AND PHOTOELECTRIC CROSS SECTIONS OF Sn FOR THE ENERGY RANGE 3.3 keV TO 29.1 keV作者机构：北京辐射中心
出 版 物：《原子与分子物理学报》 (Journal of Atomic and Molecular Physics)
年 卷 期：1992年第9卷第1期
页 面：2101-2109页
核心收录：
学科分类：080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
摘 要：利用质子激发单元素靶或化合物靶产生的特征X射线源和Si(Li)探测器,在3.3—29.1keV能区测量了锡的质量衰减系数。对于较强而孤立的特征X射线,质量衰减系数的误差≤±1％。从实验测得的总截面中减去理论计算的散射截面(本能区里,散射截面只占总截面的1％—11％)便得到了总的光电截面值。
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