直流电压作用下绝缘子表面电荷积聚的研究
Research on the Insulator Surface Charge Accumulation under DC Voltage作者机构：西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室西安710049
出 版 物：《西安交通大学学报》 (Journal of Xi'an Jiaotong University)
年 卷 期：2002年第36卷第4期
页 面：339-343页
核心收录：
学科分类：080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
基 金：国家自然科学基金资助项目(59807006) 教育部高等学校博士点基金资助项目(20010698014)
摘 要：为了对直流电压作用下的绝缘子表面电荷进行测量，设计了一种性能优良的新型电容探头，该电容探头具有电荷泄漏少、分辨率高的优点．研究了外施直流电压极性、幅值、作用时间和外界气象条件对表面电荷积聚的影响．研究表明：当外施电压的幅值和作用时间增加时，绝缘子表面电荷密度的平均值逐渐增加；绝缘子表面电荷的分布与外施电压的极性密切相关；睛朗天气要比小雨天气更易积聚表面电荷，说明绝缘子表面电导率对表面电荷积聚是有影响的．
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