一个超大规模集成电路芯片功能测试的系统方案
作者机构：安阳职业技术学院河南安阳455000 安阳市中等职业技术学校河南安阳455000
出 版 物：《电脑知识与技术》 (Computer Knowledge and Technology)
年 卷 期：2013年第9卷第4X期
页 面：2866-2870页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
摘 要：在超大规模集成电路芯片中,电路板的详细实现通常是不知道的,只有功能特性对用户是公开的。在这篇论文中,我们呈现了一个系统的方案,仅仅基于被测电路板的功能特性,我们可以检测出并确定出固定故障和桥接故障。被提议的这个方案对于学术和工业超大规模集成电路使用者检测固定故障和桥接故障以及确认芯片的功能都及有帮助。规则和实验结果将会被报告。
维普期刊数据库
同方期刊数据库