基于压电双晶片的测量薄膜应变的膨胀仪

作     者：唐一文 乐望民 汪大海 国世上 赵兴中 TANG Yi-wen;YUE Wang-min;WANG Da-hai;GUO Shi-shang;ZHAO Xing-zhong

作者机构：武汉大学物理学系武汉430072 

出 版 物：《武汉大学学报（自然科学版）》 (Journal of Wuhan University(Natural Science Edition))

年 卷 期：2000年第46卷第1期

页      面：87-90页

核心收录：

学科分类：1202[管理学-工商管理] 07[理学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 081102[工学-检测技术与自动化装置] 0811[工学-控制科学与工程] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国家自然科学基金!(59973015) 59943001 清华大学新型陶瓷与精细工艺国家重点实验室开放基金 

主　　题：压电双晶片 共聚物薄膜 电场致应变 膨胀仪 

摘      要：研制了一种基于压电双晶片的高灵敏度膨胀仪，它能够在较宽的频率范围内，可靠、方便地测量自由状态下又薄又软的共聚物薄膜最度方向的电场致应变，测试结果证明这种新型的膨胀仪在频率为１００Ｈｚ时能探测低于０．１ｎｍ的位移，最后测量了一种共聚物薄膜的电场致应变。