高纯钛的辉光放电质谱法多元素分析
Determination of trace amounts of elements in high purity titanium by GD-MS作者机构：北京有色金属研究总院分析测试技术研究所北京100088
出 版 物：《分析试验室》 (Chinese Journal of Analysis Laboratory)
年 卷 期：2012年第31卷第7期
页 面：9-12页
核心收录：
学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学]
基 金：国家科技支撑计划项目(2006BAF07B03)资助
主 题：高纯钛 辉光放电质谱法 内标校正ICP-MS法 痕量杂质元素
摘 要：采用辉光放电质谱法(GD-MS)测定高纯钛中Mg、Al、Cr、Fe、V、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、As、Sn、Sb、Ta、W、Pb、Bi等痕量杂质元素,并对GD-MS工作参数及条件进行了优化。主要元素与内标校正ICP-MS法定量分析的结果一致,对结果差异的原因进行分析,论述了Element GD辉光放电质谱仪在痕量杂质元素分析方面的优势。
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