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Mechanisms for Polarization Fatigue Behaviors of Perovskite Oxide Ferroelectric Thin Films

Mechanisms for Polarization Fatigue Behaviors of Perovskite Oxide Ferroelectric Thin Films

作     者:LIU J M (Department of Physics and National Laboratory of Solid State Microstructures, Nanjing University, Nanjing 210093, China) 

出 版 物:《四川大学学报(自然科学版)》 (Journal of Sichuan University(Natural Science Edition))

年 卷 期:2005年第42卷第S1期

页      面:36-页

核心收录:

学科分类:08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 

主  题:Thin Mechanisms for Polarization Fatigue Behaviors of Perovskite Oxide Ferroelectric Thin Films 

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