一种基于拟合优度检验的恒虚警检测方法
CFAR detector based on goodness-of-fit test作者机构:电子科技大学电子工程学院成都610054 中航雷达与电子设备研究院科技发展部无锡214063
出 版 物:《信号处理》 (Journal of Signal Processing)
年 卷 期:2009年第25卷第10期
页 面:1589-1593页
核心收录:
学科分类:080904[工学-电磁场与微波技术] 0810[工学-信息与通信工程] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 081105[工学-导航、制导与控制] 081001[工学-通信与信息系统] 081002[工学-信号与信息处理] 0825[工学-航空宇航科学与技术] 0811[工学-控制科学与工程]
基 金:国家自然科学基金项目(60772143) 国家863计划项目资助(2007AA12Z159)
摘 要:针对传统的基于滑窗自适应门限恒虚警检测方法在非高斯环境下和多目标干扰环境下,性能下降的问题,提出了一种基于拟合优度检验的恒虚警检测方案,该方法利用了目标回波与背景杂波统计特性的差异,通过检验待检单元的回波样本是否服从背景分布来检测目标:如果待检单元样本服从背景分布,则有理由相信待检单元回波源于背景杂波,从而判断没有目标存在;否则,将判断有目标存在。和传统的基于自适应门限的检测方法相比,该方法受背景分布特性和干扰目标的影响很小。仿真实验表明,在尖锐的非高斯杂波环境下以及多目标干扰环境下,都能保持更优的检测性能。