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Nb元素对Ba_(0.5)Sr_(0.5)Nb_zTi_(1-z)O_3薄膜结构与性能的影响

Influences of niobium on the properties and microstructure of Ba_(0.5)Sr_(0.5)Nb_zTi_(1-z)O_3 thin films

作     者:付兴华 方舟 傅正义 单连伟 丁碧妍 韦其红 侯文萍 FU Xing-hua;Fang Zhou;FU Zheng-yi;SHAN Lian-wei;DING Bi-yan;WEI Qi-hong;HOU Wen-ping

作者机构:武汉理工大学材料复合新技术国家重点实验室武汉430070 济南大学材料学院济南250022 

出 版 物:《功能材料与器件学报》 (Journal of Functional Materials and Devices)

年 卷 期:2005年第11卷第3期

页      面:308-312页

学科分类:07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 0702[理学-物理学] 

基  金:国家重点基础研究发展计划(No.2002CB613304) 

主  题:SBT薄膜 介电常数 介质损耗 Nb施主掺杂 结构特征 

摘      要:采用溶胶-凝胶法制备了Ba0.5Sr0.5NbzTi1-zO3薄膜(Nb=0-4.12mol%),采用HPAgilent 429A阻抗分析仪等测试方法研究了微量元素铌对Ba0.5Sr0.5NbzTi1-zO3(BSNT)薄膜介电性能的影响。当Nb分别为0-4.12mol%时,相对介电常数rε降低而介质损耗tanδ均得到了改善,当测试频率为1kHz,tanδ由0.09降低到0.067;居里温度Tm逐渐移向低温;在测试频率2.0-10MHz范围内,rε、tanδ均能表现出较好的频散特性。采用XRD、TEM等测试方法分析了薄膜的结构特征。薄膜为四方钙钛矿晶体结构,但Nb的溶入改变了晶胞参数的c/a比,减小了薄膜的晶粒尺寸,提高了薄膜的致密度。

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