基于自动微分技术的器件模型参数提取算法
Device Model Parameter Extraction Based on Automatic Differentiation Technique作者机构：西安交通大学电子科学与技术系710049
出 版 物：《固体电子学研究与进展》 (Research & Progress of SSE)
年 卷 期：2002年第22卷第1期
页 面：8-13页
核心收录：
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 0702[理学-物理学]
主 题：自动微分 参数提取 金属-氧化物-半导体场效应晶体管模型 半导体器件模型 集成电路
摘 要：自动微分 (AD)技术以非标准分析为理论基础 ,是计算机数值计算领域中的一种很有前途的方法。文中提出了基于 AD技术的器件模型参数提取算法 ,在 Visual C+ +平台编制了模型参数提取程序 ,对所建立的基于表面势的 MOSFET模型进行了有约束条件的参数提取。结果表明 ,算法收敛快、稳定性好。
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