LSSVM在指数寿命型小子样IC寿命预测的应用
Application of LSSVM on Lifetime Prediction of IC with Small Sample from Exponential Distribution作者机构：广东农工商职业技术学院电子与信息工程系广州510507 华南理工大学电子与信息学院广州510640
出 版 物：《科学技术与工程》 (Science Technology and Engineering)
年 卷 期：2011年第11卷第24期
页 面：5946-5949页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 081101[工学-控制理论与控制工程] 0811[工学-控制科学与工程] 081102[工学-检测技术与自动化装置]
主 题：寿命预测 最小二乘支持向量机 集成电路 小子样 指数分布
摘 要：针对传统寿命预测方法需要大量样本与现代高可靠集成电路(IC)在寿命试验中通常只有少量失效样本的矛盾,提出了基于最小二乘支持向量机(LSSVM)的指数寿命型小子样IC寿命预测方法。用蒙特卡罗方法研究了该方法在指数寿命型IC寿命预测应用中的可行性。同时与基于神经网络的预测方法相比。结果表明基于LSSVM的方法能更精确地预测小子样下IC的寿命,可为预测指数寿命型小子样IC的寿命提供一种新的有效途径。
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