背光阴影成像技术表征ICF靶丸内表面粗糙度

作     者：刘元琼 赵学森 雷海乐 谢端 高党忠 Liu Yuanqiong;Zhao Xuesen;Lei Haile;Xie Duan;Gao Dangzhong

作者机构：中国工程物理研究院激光聚变研究中心四川绵阳621900 哈尔滨工业大学精密工程研究所哈尔滨150001 

出 版 物：《强激光与粒子束》 (High Power Laser and Particle Beams)

年 卷 期：2010年第22卷第12期

页      面：2880-2884页

核心收录：

学科分类：07[理学] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国家高技术发展计划项目 

主　　题：背光 阴影图像 成像技术 表征 ICF靶 内表面粗糙度 surface roughness 单层球壳 表面质量 图像处理软件 实验装置 均方根粗糙度 功率谱曲线 诊断方法 物理机制 实验研究 软件模拟 球壳厚度 理论分析 冷冻 

摘      要：发展了背光阴影成像技术,用于诊断透明ICF冷冻靶冰层内表面质量。分析了单层球壳阴影图像中形成亮环的物理机制。用光学追迹软件Tracepro模拟产生了透明单层球壳的阴影图像,用于研究亮环位置与球壳厚度及折射率的关系。建立了背光阴影成像实验装置,获得了透明单层球壳具有明显亮环的实验阴影图像。编制了阴影图像处理软件,获得了靶丸内表面1维功率谱曲线,并据此计算出靶丸内表面均方根粗糙度。理论分析、软件模拟及实验研究均表明,背光阴影成像技术是透明冷冻靶冰层内表面质量的有效诊断方法。