行间转移面阵CCD漏光现象的实时校正方法
Real-time correction method of smear phenomenon based on interline transfer area CCD作者机构:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所吉林长春130033
出 版 物:《红外与激光工程》 (Infrared and Laser Engineering)
年 卷 期:2012年第41卷第7期
页 面:1952-1958页
核心收录:
学科分类:0810[工学-信息与通信工程] 08[工学] 081002[工学-信号与信息处理]
摘 要:为了实现对行间转移面阵CCD漏光现象的硬件实时校正,提出了一种基于暗像元区域漏光信号提取的方法,对大面阵行间转移CCD的漏光现象进行消除。首先,对暗像元区域的漏光信号进行提取,基于FPGA设计了实时的中值滤波算法,对提取的漏光信号进行滤波,消除随机噪声的影响。然后通过辐射定标实验确定了漏光区域信号所体现的有效像素区域饱和阈值,采用加权平均补偿的方法对大于饱和阈值的漏光区域进行补偿,最终完成漏光现象的校正。实验结果表明:通过FPGA实时中值滤波算法对提取的漏光信号进行滤波,系统延迟仅为3行图像数据读出时间,完全满足系统实时性的要求,结合加权平均补偿的漏光信号去除算法很好地还原了图像,彻底消除了漏光现象。