P_2O_5-SiO_2系快质子导电材料结构及电性能研究
Microstructure and electrical characteristic of fast proton-conducting phosphosilicate materials作者机构：中国人民武装警察部队学院科研部廊坊065000
出 版 物：《化工新型材料》 (New Chemical Materials)
年 卷 期：2008年第36卷第7期
页 面：65-66,70页
核心收录：
主 题：无机非金属材料 溶胶-凝胶 P2O5-SiO2材料 质子导电 微观结构
摘 要：采用溶脓凝胶法制备了P2O5-SiO2系质子导电材料，借助XRD、SEM、FT-IR表征了其结构，并分析了材料电导与组成、温度的关系。结果表明，材料具有微孔结构，含有水分子和形成氢键的质子；在30-70℃，P2O5-SiO2材料电导随温度的升高、磷含量的增加而提高，电导率可达10^-2S·cm^-1。
维普期刊数据库
同方期刊数据库