应用于IID变量的ARMA控制图性能分析

作     者：崔敬巍 谢里阳 刘晓霞 Cui Jingwei;Xie Liyang;Liu Xiaoxia

作者机构：东北大学机械工程与自动化学院沈阳110004 

出 版 物：《仪器仪表学报》 (Chinese Journal of Scientific Instrument)

年 卷 期：2007年第28卷第10期

页      面：1891-1896页

核心收录：

学科分类：02[经济学] 0202[经济学-应用经济学] 020208[经济学-统计学] 07[理学] 070104[理学-应用数学] 0714[理学-统计学（可授理学、经济学学位）] 070103[理学-概率论与数理统计] 0701[理学-数学] 

基　　金：高等学校博士学科点专项科研基金(20050145027)资助项目 

主　　题：数据加权 平均链长 最优参数 信噪比 ⅡD ARMA 控制图 

摘      要：首先从历史数据加权角度对应用于ⅡD(independent identical distribution)变量的ARMA控制图统计量进行了分析,结果表明,ARMA统计量对历史数据处理的灵活性优于文中提到的一元控制图,尤其是对当前数据的处理更能适应不同情况的需要,可以选择不同的控制图参数来提高控制图检测异常原因的能力。而且从统计量的变化形式来看,文中提到的一元控制图均可视为ARMA控制图的特殊情况;其次,提出了具有某ARL要求的,正态分布观测值ARMA控制图的设计方案,并应用蒙特卡罗模拟方法,总结出检测均值一次永久偏移的最优参数取值范围;最后,介绍应用信噪比方法,可对ARMA控制图的参数进行粗略的选择,同时也验证了最优参数取值范围选择的正确性。