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超/特高压变压器套管端部试验用双环结构均压环设计

Design of the Dual-ring-structure Grading Ring on Top of the EHV/UHV Transformer Busing for Test Use

作     者:王晶 梁曦东 朱士全 朱明峰 潘文 

作者机构:清华大学电机工程与应用电子技术系北京100084 常州东芝变压器有限公司常州213012 

出 版 物:《高电压技术》 (High Voltage Engineering)

年 卷 期:2011年第37卷第7期

页      面:1642-1648页

核心收录:

学科分类:080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 0807[工学-动力工程及工程热物理] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 

主  题:超/特高压 变压器 双环结构 均压环 局放测量 电晕 

摘      要:为了避免对局放测量产生干扰,应控制均压环表面最大场强Emax,使其不起晕。以常州东芝变压器有限公司正在研发的±500kV换流变阀侧Y绕组套管端部试验用均压环的设计为例,探究了双环结构均压环的3个尺寸参数——环径D、管径d和两环中心距H对均压环表面最大场强的影响,并推荐了超/特高压变压器套管端部双环结构试验用均压环设计的一般步骤。最后,探讨了均压环的安装位置对其屏蔽效果的影响。研究结果表明,3个尺寸参数中,对均压环表面最大场强起决定作用的是d,最大场强随着d的增大而降低,D和H对最大场强的影响不显著;并且当套管端部位于均压环轮廓线所围区域的中央时,套管端部场强最低,均压环的屏蔽效果最好。

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