TEM-弱束方法研究Ni_3Ga单晶次级滑移的超位错
作者机构：中国科学院北京电子显微镜实验室 牛津大学材料系
出 版 物：《电子显微学报》 (Journal of Chinese Electron Microscopy Society)
年 卷 期：1993年第12卷第2期
页 面：112-112页
核心收录：
学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 080502[工学-材料学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 0703[理学-化学] 070301[理学-无机化学]
摘 要：具有Ll_2结构的Ni_3Ga在室温和600℃高温之间有异常力学性能,即在此温度范围内,它的屈服应力随温度的升高而增加。当形变量不大时,在此温度范围内只有初级滑移系启动。
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