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液固分离法制备Al-65vol%Si电子封装材料组织及性能

Microstructure and properties of Al-65vol%Si alloy fabricated by a process of liquid and solid separation

作     者:李艳霞 刘俊友 刘国权 贾琪瑾 

作者机构:北京科技大学材料科学与工程学院北京100083 北华航天工业学院材料系河北廊坊065000 

出 版 物:《材料热处理学报》 (Transactions of Materials and Heat Treatment)

年 卷 期:2012年第33卷第3期

页      面:40-45页

核心收录:

学科分类:08[工学] 080502[工学-材料学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 

主  题:液固分离 高硅铝合金 电子封装 热导率 热膨胀系数 

摘      要:采用液固分离法制备了Al-65vol%Si电子封装材料,借助扫描电镜、透射电镜等手段分析了合金中Si相的形态分布、界面及断口形貌,测定了合金的热膨胀系数、热导率及抗弯强度。结果表明:Al-65vol%Si合金组织中硅相颗粒分布均匀,形状规则呈近团球状和短杆状,Al/Si两相界面光滑、平直,无缺陷。合金密度2.4 g/cm3,室温下的热导率(TC)为119.5 W/(m.K),热膨胀系数(CTE)从50℃到400℃在6.5×10-6~11.3×10-6/K范围内稳定增加,抗弯强度为132 MPa,Si相的脆性断裂为主要断裂方式。Al-65vol%Si合金性能满足电子封装要求。

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