扫描电子显微镜图像漂移的实时矫正方法
Real-time correction of image drift in scanning electron microscope作者机构:苏州大学机器人与微系统研究中心江苏苏州215021 苏州纳米科技协同创新中心江苏苏州215021
出 版 物:《光电工程》 (Opto-Electronic Engineering)
年 卷 期:2018年第45卷第12期
页 面:37-44页
核心收录:
学科分类:070207[理学-光学] 07[理学] 081203[工学-计算机应用技术] 08[工学] 0835[工学-软件工程] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学] 0812[工学-计算机科学与技术(可授工学、理学学位)]
摘 要:为解决扫描电子显微镜(SEM)由于电子束漂移、电磁干扰等原因导致的图像漂移问题,提出基于ORB结合PROSAC的图像漂移矫正算法。首先采用ORB算法对基准图像和实时图像进行特征检测,然后利用汉明距离与交叉匹配实现特征的初匹配,再结合RANSAC的优化算法PROSAC计算帧间的单应矩阵,利用单应矩阵映射剔除外点后重新迭代计算出最终的精确单应矩阵,最后利用单应矩阵的透视变换实现SEM图像漂移实时矫正。通过实验证明,该算法不仅精度高,而且能够满足SEM实时处理的要求。