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基于一维碳纳米结构场效应管压阻效应的研究

作     者:张文涛 郝君君 黄钱飞 

作者机构:江西现代职业技术学院 

出 版 物:《计算机产品与流通》 

年 卷 期:2018年第7卷第9期

页      面:127-127页

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 07[理学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学] 0702[理学-物理学] 

基  金:江西现代职业技术学院"基于碳纳米材料巨压阻效应的场效应管研究"课题的研究成果 课题编号:JXXD-2018-32 

主  题:MOS管 压阻效应 纳米材料 

摘      要:生活中常见的各类非易失性存储设备大部分使用的是闪存(Flash),其数据的存储是利用浮栅电荷存储技术改变MOS管的阀值特性来实现的^([1])。由于MOS结构Flash自身特点和工作原理的限制,导致数据存储的密度和速度很难有新的突破,因此,我们提出在规律性施加应力变量具有压阻效应的纳米结构场效应管,且对应力变量具有非易性的记忆,基于纳米器件的阻值变化来实现二进制数据的存储,也可在特定的电场或高电压下清除纳米材料记忆的应力信息,恢复到其初始的阻值。

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