纳秒脉冲下温度、频率对尼龙6电老化的影响
Temperature and Frequency Influence on Electrical Tree Aging of Nylon 6 Under Nanosecond Pulses作者机构:中国科学院电工研究所北京100190 中国科学院电力电子与电气驱动重点实验室北京100190 中国科学院大学北京100190
出 版 物:《高电压技术》 (High Voltage Engineering)
年 卷 期:2015年第41卷第4期
页 面:1334-1341页
核心收录:
学科分类:080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 080502[工学-材料学]
基 金:清华大学开放研究课题基金(SKLD12KM01)~~
主 题:尼龙6 电树枝 ns脉冲 电老化 PTFE PMMA
摘 要:尼龙6作为绝缘材料经过长时间运行后,绝缘性能会受老化的影响而劣化。目前对此类绝缘材料的研究多集中在常温和工频下,在ns脉冲条件下的研究较少。为了研究温度、频率对尼龙6中电树枝引发的影响,实验采用了固态ns脉冲发生器MPC50D为激励源,其具有30 ns的下降沿和70 ns的脉冲宽度;使用温度循环实验箱SP-80U控制实验温度。实验的温度设定为-40-60℃,频率设定为20-1 500 Hz。实验结果表明:温度对尼龙6中的电树枝引发电压有明显的影响,随温度的升高电树枝引发电压下降明显;频率对电树枝的影响并不明显,只在200 Hz以下出现了较明显的趋势;尼龙6、聚四氟乙烯(PTFE)和有机玻璃(PMMA)中的电树枝形态差异巨大,尼龙6中为丛林形,PTFE中为树枝形,PMMA中为层裂形;ns脉冲下击穿通道出现了放电引发的扇形结构。实验数据为尼龙6在ns脉冲下的绝缘应用提供了参考。