薄膜厚度对铁电薄膜铁电性能的影响
Effects of film thickness on the properties of ferroelectric film作者机构：哈尔滨工程大学工程训练中心黑龙江哈尔滨150001 哈尔滨工业大学复合材料研究所黑龙江哈尔滨150001
出 版 物：《哈尔滨工程大学学报》 (Journal of Harbin Engineering University)
年 卷 期：2009年第30卷第9期
页 面：1070-1073,1081页
核心收录：
学科分类：0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学] 0702[理学-物理学]
基 金：国家自然科学基金资助项目(10572043) 哈尔滨工程大学基础研究基金资助项目(HEUFT08015)
摘 要：为研究薄膜厚度对外延铁电薄膜铁电性能的影响,应用与时间有关的Ginzburg-Landau方程,在同时考虑应力和表面效应的条件下,获得了不同应力情况下,不同厚度铁电薄膜的电滞回线及蝶形应变迟滞回线.计算结果显示,处于不同应力值下的铁电薄膜,剩余极化强度和场致应变随着薄膜厚度的增加而增加,而矫顽场随着薄膜厚度的增加而减小.证明了不同应力情况下,薄膜厚度对剩余极化强度和矫顽场的影响是不能忽略的.这种变化趋势与实验结果的情况是一致的.
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