空间低剂量率辐射诱导电荷效应评估技术研究
Estimating research on space low dose rate radiation-induced charge effects作者机构：西北核技术研究所陕西西安710613
出 版 物：《强激光与粒子束》 (High Power Laser and Particle Beams)
年 卷 期：2003年第15卷第3期
页 面：275-278页
核心收录：
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 080502[工学-材料学]
基 金：国防科技基础研究基金资助课题
主 题：辐射诱导 评估技术 MOS器件 低剂量率 电荷效应 反弹现象 空间环境
摘 要： 介绍了LC4007RHA和LC4007RHB两种器件空间低剂量率辐射诱导电荷效应评估情况,研究结果表明:在MIL STD883C测试方法1019.4的基础上,60Co辐照加25℃室温退火,可以提供对空间氧化物陷阱电荷效应相对于1019.4不太保守的估计;另外,就美军标1019.4测试方法中利用100℃168h高温加速反弹实验来检验空间环境中与界面态相关的失效可能出现的现象进行了讨论。
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